Occasion CAMBRIDGE EBMF-6 #145926 à vendre en France

CAMBRIDGE EBMF-6 Scanning Electron Microscope (SEM) est un SEM moyenne tension qui est capable d'analyser une grande variété de matériaux échantillons dans des environnements académiques et industriels. Ce SEM est équipé d'un équipement d'injection de gaz à pression variable, permettant d'analyser des échantillons dans des conditions basses, voire ambiantes. EBMF-6 est capable d'imager des structures jusqu'à l'échelle du nanomètre avec des résolutions de 1 nm pour les électrons secondaires et de 3 nm pour les électrons rétrodiffusés. Il présente une sensibilité de 0,25 nm/v et une petite tache de 1 nm pour une résolution maximale. CAMBRIDGE EBMF-6 SEM dispose d'un détecteur Everhart-Thornley pour détecter les électrons secondaires, qui peut ensuite être utilisé pour l'imagerie 3D. De plus, le détecteur d'électrons rétrodiffusé dédié fournit des images supérieures de la structure cristalline de l'échantillon. Cette technologie de pointe permet aux chercheurs d'isoler la structure d'un échantillon sans agents anyperturbants ni bruit de fond. EBMF-6 comprend également un système optique numérique qui supporte une variété de processus d'image et d'améliorations d'image. Ceci améliore la précision et la vitesse du SEM en permettant jusqu'à 360 ° de rotation de l'échantillon, un zoom numérique de 2x, doublant la clarté de l'image et permettant une recherche rapide des objets dans l'image. Le SEM comprend également un étage Focus et axe Z actionné par Joystick qui permet de manipuler l'échantillon sans avoir à le retirer et à le replacer sous le faisceau d'électrons à balayage. Cette fonctionnalité accélère l'ensemble du processus d'acquisition de données, qui est un élément essentiel des études SEM. CAMBRIDGE EBMF-6 est facile à utiliser, grâce à son unité de commande puissante mais conviviale. Le logiciel dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive qui simplifie l'ensemble du processus et permet aux utilisateurs d'apprendre rapidement à contrôler le SEM. Au total, EBMF-6 Scanning Electron Microscope est un SEM fiable, puissant et convivial qui fournit d'excellentes capacités d'imagerie à une petite taille et une grande sensibilité. Ses fonctionnalités avancées et sa machine de contrôle efficace en font un excellent choix pour la recherche académique et industrielle.