Occasion CAMBRIDGE S 200 #9034861 à vendre en France
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Vendu
ID: 9034861
SEM
Windows 7 upgrade
Scanning system DISS 5 standard edition/communication USB 2.0
Hardware: X-/Y-scan, 2 analog signal inputs without counter inputs
Software: without mapping and enlarged point measurement/line scan
19" rack (containing the electronics), 10 HU without housing,
without desk
Backplane and power logic with interlock system
Central USB 2.0 interface for control and communication
Plug-in card with 8 bipolar current sources
(Beam alignment, image shift, stigmator)
Plug-in card with X-/Y-scanning power amplifier / current sources
(Magnification coarse/fine, scan rotation, tilt correction X/Y filament image)
Plug-in card for objective and 2 condensor lenses / power current sources (focus coarse, fine, spot size)
Plug-in card with 8 analog unipolar/bipolar control outputs /voltage (gun: HV, filament emission, SE: contrast, brightness, grid; aux: contrast brightness)
2.9. Power supplies for electronics, lenses and coils
SE-amplifier module
(Amplifier with offset; adjustable 1,5 kV for PMT, power supply SE-preamp
SE-high voltage module
(10-12 kV scintillator-high voltage and adjustable grid voltage
Control module for gun-high voltage of SEM
(Control of HV, filament, emission, emission current measurement, optional: power supply)
Adaption of the vacuum and HV interlock of the SEM to the
interlock-system of the SEM-upgrade (Vacuum-gun-HV-interlock; Stage SE-HV-interlock)
19" rack fitting in the SEM housing
Schottky Thermal Field Emission (TFE) source
Point-to-point Resolution of <3nm*
High Beam Current. (10pA to >100na)
Improved low voltage (1kV) performance
TFE “Schottky” Source PC controlled.
Reduced Downtime and Cost of Ownership
Fully reversible AND transferable upgrade Kit for variety of Tungsten (W) SEM models including JEOL, Hitachi,
FEI, Zeiss and others.
External and internal magnetic shielding
30 KeV Schottky Field Emission Source Mechanical Assembly:
x1 Thick walled stainless steel chamber
One Schottky Field Emission Gun Unit
Differential pumping tube and UHV valve
Internal mu-metal shield
55 I/s ion pump and power supply (optional)
External mu-metal shield
YPS High Voltage Power Supply:
Remote high voltage supply unit with:
Fibre optic link
High voltage cable with Discharge Management
YPS Schottky Field Emission Gun Unit:
Pre-aligned™ YPS Schottky field emission module (HV-30)
YPS Software Interface:
USB interfaced fibre optic output to the remote YPS HV power supply
Software from the system PC to controland monitor the Schottky field emission module.
CAMBRIDGE S 200 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de minuscules objets. Il a la capacité de produire des images incroyablement haute résolution avec une résolution aussi faible qu'un nanomètre. Les composants principaux du CAMBRIDGE S-200 comprennent une source d'électrons, une colonne accélératrice, une cage de Faraday, un déflecteur, un générateur de balayage, une alimentation à haute tension et un détecteur d'image numérique. La source d'électrons est un filament fin qui émet des électrons qui descendent ensuite la colonne d'accélération. Ensuite, les électrons traversent le déflecteur qui dévie le faisceau vers la région de l'échantillon. Le générateur de balayage produit un faisceau dévié dans la région de l'échantillon, permettant la création d'une image raster de la surface de l'échantillon. Une fois ces balayages terminés, un signal est envoyé au détecteur d'images qui convertit le signal optique en signaux électriques et l'envoie à l'affichage. S 200 a un certain nombre de caractéristiques qui en font un choix idéal pour les applications qui nécessitent une imagerie et une analyse haute résolution. Son système à vide ultra-élevé permet un fonctionnement à une pression extrêmement basse, garantissant que l'échantillon n'est pas endommagé par le faisceau d'électrons. De plus, son filtre d'énergie aide à réduire l'élargissement du faisceau et à produire une image à plus haute résolution. Il dispose également d'un système intégré d'amélioration de l'image qui contribue à la réduction du bruit et à l'amélioration du contraste. S-200 dispose d'un étage de spécimen avancé qui permet d'automatiser la navigation et le positionnement des spécimens. Ceci permet d'imiter des échantillons sans interaction utilisateur. L'étage présente également une gamme de caractéristiques telles que la tension d'accélération variable, l'inclinaison de l'échantillon et la rotation de l'échantillon, ce qui le rend adapté à pratiquement toute tâche d'imagerie ou d'analyse. CAMBRIDGE S 200 dispose d'une interface utilisateur intuitive permettant une navigation, un fonctionnement et un contrôle faciles du microscope. Il dispose également d'un système logiciel avancé qui offre le suivi en direct, l'automatisation et l'analyse quantitative des images de spécimens. Cela rend CAMBRIDGE S-200 adapté à une grande variété d'applications telles que la métallographie nanométrique, l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances et la mesure de la taille des grains. Dans l'ensemble, le S 200 est un microscope électronique à balayage avancé capable de produire des images à très haute résolution. Ses fonctionnalités avancées permettent un positionnement automatisé des spécimens, un fonctionnement intuitif et une analyse quantitative, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'applications.
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