Occasion CIQTEK DB550 #293820900 à vendre en France

ID: 293820900
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Ion optical system Current: 1pA - 65nA Voltage: 500V - 30kV Electron-optical system Current: 1pA - 20nA Voltage: 320V - 30kV Vacuum system Sample chamber Sample stage Detector Image display.
CIQTEK DB550 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) qui se distingue par ses capacités d'imagerie avancées, sa conception ergonomique et son interface utilisateur intuitive. Cet instrument de pointe est conçu pour fournir des images haute résolution et une analyse détaillée d'un large éventail d'échantillons avec une performance et une efficacité exceptionnelles. Ce SEM est idéal pour les laboratoires de recherche, les établissements universitaires et les installations industrielles qui cherchent à étudier avec précision et précision les structures nanométriques et les propriétés de surface. Au cœur de DB550 se trouve son système d'optique électronique avancée, qui comprend une source d'électrons de haute luminosité, une colonne optique électronique sophistiquée et un faisceau d'électrons de précision. La source d'électrons génère un faisceau d'électrons très cohérent avec une excellente luminosité et stabilité, permettant au microscope d'obtenir une imagerie haute résolution à l'échelle des nanomètres. La colonne optique électronique est optimisée pour des performances d'imagerie supérieures, avec un étalement minimal du faisceau et un rapport signal/bruit élevé pour assurer des images claires et détaillées de l'échantillon. CIQTEK DB550 dispose d'une gamme de détecteurs et de modes d'imagerie pour répondre à divers besoins d'imagerie et types d'échantillons. Le microscope est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire à grande surface pour l'imagerie haute résolution de topographie et de composition de surface, ainsi que d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour l'analyse élémentaire et l'imagerie de contraste matériel. De plus, le SEM offre une spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire quantitative et la cartographie de la composition chimique de l'échantillon. L'un des points forts de DB550 est sa conception ergonomique et son interface conviviale, qui simplifient le flux de travail d'imagerie et d'analyse pour les chercheurs et les opérateurs. Le microscope est équipé de commandes d'étage motorisées, de logiciels automatisés d'acquisition d'images et d'outils intuitifs d'analyse de données qui permettent aux utilisateurs de naviguer et d'explorer les échantillons avec facilité. L'interface utilisateur est conçue pour un fonctionnement continu, permettant aux utilisateurs d'ajuster les paramètres d'imagerie, de capturer des images et d'effectuer des analyses avec un minimum de formation et d'expertise. En termes de performance, CIQTEK DB550 excelle en vitesse d'imagerie, résolution et capacités analytiques. Le microscope offre des vitesses d'imagerie et de balayage rapides, permettant l'acquisition et l'analyse efficaces de données de grandes zones d'échantillons à haut débit. Le SEM bénéficie également d'une résolution et d'une qualité d'image exceptionnelles, avec des capacités de résolution sous-nanométrique pour l'imagerie de détails de surface fine et de matériaux nanostructurés. En outre, les capacités d'analyse de l'instrument, y compris l'EDS et la cartographie élémentaire, fournissent des informations précieuses sur la composition chimique et les propriétés matérielles de l'échantillon. Dans l'ensemble, DB550 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui combine technologie d'imagerie avancée, conception ergonomique et interface conviviale pour fournir des performances et des résultats exceptionnels pour un large éventail d'applications. Qu'il s'agisse d'étudier les structures nanométriques, de caractériser les propriétés des matériaux ou d'effectuer une analyse élémentaire, ce SEM offre aux chercheurs et aux opérateurs une solution complète pour l'imagerie et l'analyse précises des échantillons avec un détail et une précision sans précédent.
Il n'y a pas encore de critiques