Occasion ELIONIX ELS-7500EX #293594292 à vendre en France

ID: 293594292
Style Vintage: 2005
E-Beam exposure system 2005 vintage.
ELIONIX ELS-7500EX est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie industrielle, y compris l'analyse des défaillances, les inspections des semi-conducteurs et l'analyse morphologique de surface. Il offre une source d'émission de champ à haute sensibilité (FE), une résolution pouvant atteindre 1,0nm, et un grand étage et une chambre d'échantillon pour l'inspection de grands échantillons. ELS-7500EX présente un 300kV la source de FE avec une gamme de courants de rayon, en fournissant aux signaux de détecteur d'électron de haute sensibilité le bruit dans l'environnement bas. La source FE est très stable, éliminant les artefacts d'échantillons causés par des vibrations mécaniques telles que la turbulence d'air. ELIONIX ELS-7500EX dispose également d'un mode SE (électrons secondaires) à faible courant, permettant l'imagerie à très faibles courants de faisceau. Le microscope utilise un grand étage d'échantillon inclinable/rotatif et une chambre d'échantillon, ce qui permet d'obtenir de grandes tailles d'échantillons et des angles d'échantillons complexes. L'équipement sous vide offre une pression de base de 1 x 10-4 Pa, supportant une grande variété de matériaux spécimens. L'étage et la chambre d'échantillonnage disposent également de fonctions rapides de scan et de préparation d'échantillons, permettant une inspection rapide de la morphologie de surface et la préparation automatique d'images 3D. ELS-7500EX offre également un système optique haute résolution, avec des résolutions jusqu'à 1.0nm. L'unité optique est conçue pour l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, et est équipée de divers accessoires d'objectif, permettant des grossissements variables. ELIONIX ELS-7500EX est idéal pour les applications d'imagerie industrielle, fournissant une plate-forme d'imagerie très précise et stable. Sa combinaison unique de caractéristiques, y compris une source FE haute sensibilité, une chambre d'échantillonnage inclinable/rotative et une machine optique haute résolution, en fait un excellent choix pour l'imagerie d'échantillons complexes.
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