Occasion FEI Altura 835 #293761494 à vendre en France

FEI Altura 835 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour les capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution. Il s'agit d'un SEM de niveau intermédiaire configuré avec des capacités d'imagerie avancées, y compris le balayage 3 axes et la fonctionnalité de gravure numérique d'images avec une interface graphique facile à utiliser. Le SEM supporte en interne une large gamme d'électrons secondaires (SE) détecteurs pour la morphologie et l'analyse de la composition, y compris un détecteur rétrodiffuseur à l'état solide (SBD), un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDX) pour l'analyse d'éléments, un filtre d'énergie à ultra-faible perte refroidi à l'azote liquide (EELF) pour l'imagerie et l'analyse des états chimiques, et un large éventail de détecteurs pour combiner l'imagerie secondaire, rétrodiffuseur et radiographie. Altura 835 intègre un signal avancé à l'optimisation du bruit qui permet de capturer plus de détails d'imagerie incluant un amplificateur de signal sur scène avec une conception spéciale à faible bruit et une variété de technologies de filtrage et d'amélioration du signal pour optimiser le rapport signal/bruit. Le SEM est également équipé d'une caméra monochrome haute résolution et d'une variété de logiciels de positionnement et de couture x, y, z pour automatiser et rationaliser l'acquisition d'images. Les capacités analytiques de FEI Altura 835 comprennent une analyse automatique du bruit de surface de l'échantillon qui génère des distributions de surface, de volume et de granulométrie. En outre, il prend également en charge la reconnaissance automatisée des motifs, ainsi que des mesures de structure de surface comme la microscopie à force atomique (AFM). L'analyse de composition avec le détecteur EDX peut être utilisée pour caractériser les distributions élémentaires nanométriques, avec une configuration multi-canaux pour la mesure simultanée de plusieurs éléments, et l'imagerie spectrale pour la cartographie des distributions élémentaires résolues par région. Afin de maximiser la convivialité et la capacité, Altura 835 est livré avec un système opérationnel automatisé qui simplifie la préparation et l'analyse des spécimens. Ce système automatisé fournit une interface utilisateur intuitive pour le processus de mesure, où les utilisateurs sont en mesure de visualiser, contrôler et surveiller le microscope en temps réel. En outre, le système est livré avec des outils logiciels complets et des algorithmes avancés qui fournissent des capacités puissantes de gestion des données, d'imagerie, de visualisation des données et d'analyse. En fin de compte, FEI Altura 835 est une plate-forme SEM polyvalente équipée de capacités d'imagerie et d'analyse avancées qui permettent aux chercheurs d'explorer et de caractériser les matériaux et les nanostructures avec une grande précision.