Occasion FEI Altura 835 #9286978 à vendre en France

FEI Altura 835 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui combine une technologie de pointe pour des performances ultimes lors de l'imagerie et de l'analyse de surfaces de spécimens. Il dispose d'une colonne SEM lourde et d'un étage de balayage rapide, qui fournit un positionnement précis des échantillons, une vitesse de balayage rapide et une imagerie haute résolution. L'équipement offre un large éventail de capacités analytiques, y compris des détecteurs de rayons X dispersifs d'énergie (EDX) qui peuvent analyser des éléments dans des échantillons organiques et inorganiques, offrant une multitude d'informations sur la structure des matériaux, la composition et la morphologie de surface. Altura 835 dispose également d'une colonne électronique haute résolution avec un système de déflecteur à 5 axes. Les trois déflecteurs de balayage à 2 axes de cette unité offrent une vitesse de balayage très rapide tout en maintenant une excellente focalisation source-échantillon et une excellente qualité d'image. La haute tension d'accélération fournie par FEI Altura 835 le rend apte à conduire des techniques d'imagerie multiples telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée. Les étapes d'inclinaison de la machine permettent aux utilisateurs d'acquérir des images sous plusieurs angles d'inclinaison afin d'évaluer la topologie de surface d'un spécimen. Le microscope offre également un mode d'imagerie basse tension qui permet d'observer des spécimens très fragiles sans crainte d'endommagement ou d'altération. L'outil EDX haute résolution d'Altura 835 permet une cartographie élémentaire rapide des échantillons. Cela le rend excellent pour l'analyse de la chimie des matériaux organiques et inorganiques. L'actif EDX est composé d'un détecteur, d'un poste de travail EDX et de logiciels associés, permettant une cartographie rapide et facile des éléments. Le détecteur présente une résolution de 144 canaux spectraux pour la quantification impartiale de la composition matérielle. FEI Altura 835 offre une large gamme de caractéristiques pour l'analyse d'une variété de spécimens. Il est livré avec une grande chambre d'échantillonnage et l'espace de travail, permettant aux utilisateurs de suivre le développement des échantillons tridimensionnels avec la ceinture d'un moteur de scène. Il comprend également des fonctionnalités telles que la manipulation magnétique des échantillons, les encodeurs numériques et le suivi automatique pour faciliter la navigation et le positionnement de plusieurs échantillons. Altura 835 est un outil ultime pour ceux qui recherchent des capacités d'imagerie et d'analyse avancées dans un microscope électronique à balayage. Sa conception et sa technologie de pointe en font un outil idéal pour acquérir des images haute résolution et analyser des structures et des compositions de matériaux. Grâce à l'interface conviviale du modèle, il est facile pour les utilisateurs de configurer et d'utiliser le microscope, offrant aux utilisateurs des performances de pointe lors de l'étude des surfaces d'échantillons.