Occasion FEI CLM-3D #293670547 à vendre en France

FEI CLM-3D est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour caractériser la topographie de surface et les caractéristiques microstructurales des échantillons à haute résolution à l'échelle nanométrique. Le microscope dispose d'un grand champ de vision et d'une distance de travail étendue, ce qui le rend idéal pour capturer des caractéristiques détaillées ainsi que des aperçus à grande échelle. CLM-3D dispose d'une véritable chambre colorée permettant l'imagerie de haute précision des structures nanométriques. Ceci est particulièrement intéressant lors de l'imagerie d'échantillons nécessitant une analyse optique ou chimique d'éléments de structure. La véritable chambre couleur permet également à l'utilisateur d'obtenir des images tridimensionnelles (3D) qui peuvent être visualisées interactivement et également sauvegardées sous forme de fichiers numériques. FEI CLM-3D utilise l'optique haute résolution pour assurer une imagerie précise des surfaces des échantillons. L'objectif a une longue distance de travail, permettant des profondeurs de champ plus importantes tout en fournissant une résolution d'imagerie satisfaisante. En outre, l'objectif présente également un angle de collection allant jusqu'à 30 degrés, permettant l'imagerie de vue inclinée et la détermination des formes 3D des caractéristiques nanométriques. CLM-3D dispose également d'une vitesse d'acquisition plus rapide, avec la possibilité de capturer des milliers d'images par seconde. Cela permet une analyse rapide des échantillons, augmentant considérablement la productivité. FEI CLM-3D comprend des logiciels multifonctionnels qui facilitent l'imagerie automatisée, l'analyse et la publication de l'information. Le logiciel est équipé de plusieurs fonctionnalités, y compris le piquage automatisé, le tranchage à plusieurs niveaux et l'analyse de l'intensité crête/creux. La conception modulaire de CLM-3D offre une gamme de configurations à choisir, selon l'application utilisée. Cette conception modulaire permet de réduire les temps d'arrêt, les interférences électriques et d'optimiser les performances. Dans l'ensemble, FEI CLM-3D est un microscope électronique à balayage de haute précision qui fournit d'excellentes caractéristiques d'imagerie à l'échelle nanométrique. Il convient à diverses applications, y compris la recherche en sciences des matériaux, la caractérisation des nanomatériaux et l'analyse des semi-conducteurs.