Occasion FEI FIB 200 #9082663 à vendre en France

FEI FIB 200 est un microscope électronique à balayage avancé à haute résolution (SEM) conçu pour des applications telles que l'analyse des matériaux et la caractérisation des matériaux. Il utilise un faisceau ionique focalisé (FIB) pour permettre des images très amplifiées et détaillées de la structure interne des matériaux, ainsi que la capacité de prélever des échantillons avec une précision atomique. Grâce à son système électronique et optique de pointe, le FIB 200 offre une résolution plus élevée et un balayage plus rapide que la plupart des SEM. FEI FIB 200 utilise une source d'émission de champ pour fournir des électrons à des courants extrêmement élevés. Ces électrons sont focalisés par une série de lentilles électromagnétiques puis accélérés par une anode vers l'échantillon. Lorsque les électrons interagissent avec le matériau de l'échantillon, ils génèrent des signaux distincts qui sont ensuite détectés par le système SEM et traités en images. FIB 200 dispose d'un correcteur d'aberration sphérique qui lui permet d'obtenir des images de petite résolution. Le faisceau d'ions focalisés incorporé dans ce système est un aspect critique de la préparation des échantillons. La FIB permet aux utilisateurs de prélever une surface d'échantillon et de la découper en couches minces pour une analyse plus approfondie. Ce procédé de coupe est incroyablement précis, ce qui permet de préparer des échantillons avec une précision atomique. Il permet également l'élimination des atomes de surface et le dépôt de sondes et de substrats dans l'échantillon. FEI FIB 200 fournit également une suite d'outils d'analyse et de mesure d'images qui permettent aux utilisateurs d'analyser les matériaux avec plus de précision. Cela inclut des outils tels que la cartographie couleur multidimensionnelle et des modèles de fonctionnalités automatiques. Les données peuvent être exportées pour une analyse plus approfondie, ou sauvegardées pour une référence future. Dans l'ensemble, FIB 200 est un SEM avancé, équipé d'outils pour fournir des informations précieuses sur les matériaux nanométriques. Sa précision et sa résolution inégalées, associées à sa FIB intégrée, en font un instrument idéal pour l'analyse et la caractérisation des matériaux.