Occasion FEI FIB 200 #9178157 à vendre en France

FEI FIB 200 est une pièce innovante à haute résolution de la technologie de microscope électronique à balayage (SEM) de FEI. Ce microscope électronique à balayage avancé simplifie l'observation des matériaux et des objets à l'échelle nanométrique. Il utilise une combinaison de faisceau d'ions focalisés (FIB) et de microscopie électronique à balayage, offrant de puissantes capacités d'imagerie et des options de préparation d'échantillons. Le FIB 200 intègre un système FIB à haute énergie et un microscope électronique à balayage à haute émission de champ sous vide dans un seul instrument. Le puissant système FIB permet une plus grande capacité d'analyse, offrant de faibles courants parasites et un fonctionnement à quatre faisceaux. Cela permet d'analyser avec précision de petites caractéristiques et signatures sur une variété de surfaces, et offre un excellent contraste d'image et de résolution. Le microscope électronique FEI FIB 200 à balayage par émission de champ est très efficace et fournit de superbes images de toute surface ou matière d'échantillon, même lorsqu'il fonctionne à des tensions d'accélération plus faibles. Il prend en charge l'imagerie en mode élémentaire et cristallographique, et comprend l'alignement automatisé de SEM, de sorte que les utilisateurs peuvent se concentrer et incliner l'échantillon indépendamment. Les autres caractéristiques du FIB 200 comprennent un panneau d'exploitation interactif, un grand champ de vision et un système logiciel automatisé pour la navigation par échantillons. L'interface facile à utiliser et les opérations automatisées des panneaux permettent une navigation rapide vers la zone souhaitée dans l'échantillon, de sorte que l'analyse peut être effectuée plus rapidement, et avec moins d'effort. Pour la préparation des échantillons, le FEI FIB 200 offre une variété d'options de découpe et la possibilité d'incliner et de modifier les échantillons. Selon les besoins de l'utilisateur, les échantillons peuvent être coupés, broyés, amincis ou polis avec une grande précision. La puissante combinaison d'un FIB et d'un SEM avancé offert par FIB 200 en fait un excellent choix pour l'analyse et l'évaluation de matériaux et d'objets à l'échelle du nanomètre. Cette machine polyvalente et fiable est capable de répondre à des exigences de haute précision et de production, et permet d'observer facilement même les caractéristiques les plus délicates sur une gamme de surfaces et de matériaux.