Occasion FEI FIB 800 #9195240 à vendre en France

FEI FIB 800 est un type de microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans l'analyse d'une large gamme de matériaux. Il utilise des faisceaux d'électrons intenses pour scanner un échantillon et produire des images à des grossissements élevés. Le faisceau d'électrons est généré par un filament de tungstène actionné à haute tension dans une chambre à vide. Ce système est capable de produire des nanoprobes très détaillées, utilisées pour capturer des images en haute résolution. FIB 800 est capable de résolutions aussi élevées que 2000 nm. L'échantillon est monté sur un étage fixé à une série de moteurs linéaires qui peuvent être utilisés pour déplacer l'échantillon par petits pas. Le faisceau est focalisé sur l'échantillon par des électrodes et diverses lentilles, produisant un champ de vision important. Un détecteur est utilisé pour capturer les signaux générés par les électrons interagissant avec l'échantillon. Les données sont ensuite utilisées pour créer des images qui peuvent être analysées pour les caractéristiques et les défauts. Le FEI FIB 800 est équipé d'une variété de caractéristiques utiles, y compris une gamme de systèmes électroniques, de pompes à vide, d'alimentation électrique et de refroidissement. Il dispose également de systèmes à trois axes et de télécommande, permettant la télécommande de l'étage d'échantillonnage. La tension d'accélération peut être réglée de 0,1 à 30kV, et un courant de faisceau réglable donne un contrôle supplémentaire sur la résolution. FIB 800 est un outil polyvalent pour l'inspection et l'analyse d'une gamme d'échantillons, des métaux aux semi-conducteurs. Il produit des images de haute qualité à des grossissements élevés, aidant les ingénieurs et les chercheurs à mieux comprendre les caractéristiques de leurs matériaux. La gamme de caractéristiques et de réglabilité fait de FEI FIB 800 un choix parfait pour une variété d'applications de microscopie.