Occasion FEI FIB 800 #9200349 à vendre en France

FEI FIB 800 est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour des applications d'imagerie avancées. Il est équipé d'un ensemble analytique avancé qui comprend un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), un spectromètre à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS) et un évaporateur Au-métal pour faciliter les techniques d'analyse sensibles à la surface. Cet instrument est utilisé pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle des sous-nanomètres dans diverses disciplines, notamment la science des matériaux, la géologie, l'ingénierie des semi-conducteurs et la biologie. FIB 800 est capable d'afficher des niveaux de détail et de résolution extrêmement élevés dans ses capacités d'imagerie. Le SEM utilise un faisceau d'électrons à balayage unique fonctionnant à un certain nombre d'énergies de faisceau différentes pour obtenir des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés, l'analyse du spectre, la spectrométrie de perte d'énergie et l'imagerie basse tension. Cela permet une grande précision dans la capture et l'analyse d'objets extrêmement petits tels que les virus ou les réseaux cristallins. L'éclairement de la zone imagée peut également varier d'intensité et est réglable pour tenir compte de diverses épaisseurs d'échantillons et conditions de surface. La FEI FIB 800 dispose d'une chambre équipée d'un étage d'échantillons à commande électrique qui permet d'imiter des processus statiques et dynamiques en temps réel. Cette étape présente une grande précision et précision dans le déplacement de l'échantillon avec une très faible inertie et des vibrations particulièrement bénéfiques lors de l'imagerie d'échantillons fragiles ou biologiques. L'EDS permet à l'utilisateur d'identifier et d'analyser la composition élémentaire du matériau de l'échantillon. Le WDS est utilisé pour détecter et quantifier la composition des rayons X émis de l'échantillon lorsque le faisceau est bombardé d'électrons, tandis que l'évaporateur permet la pulvérisation ou le dépôt sur la surface de l'échantillon. En outre, les capacités d'imagerie de cet instrument sont encore améliorées par son logiciel d'analyse intégré qui peut être utilisé pour mesurer la surface, l'intensité, la netteté des bords et même les éléments de surface des caractéristiques de l'échantillon. FIB 800 est un outil puissant et sophistiqué, capable d'effectuer une variété de tâches complexes d'imagerie et d'analyse sur une variété d'échantillons. Sa résolution supérieure et ses capacités analytiques étendues le rendent bien adapté à une variété d'applications d'imagerie.