Occasion FEI FIB-800XP #9104016 à vendre en France

FEI FIB-800XP est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) idéal pour une variété d'applications d'imagerie et d'analyse à l'échelle nanométrique. Il offre un niveau de résolution amélioré avec la capacité d'image et d'analyse des échantillons jusqu'à 0.1nm. Le 800XP fonctionne sur un système à double faisceau pour une flexibilité optimale, permettant aux utilisateurs de commuter entre des utilisations telles que le dépôt induit par faisceau d'électrons (EBID) et le broyage par faisceau d'ions focalisé (FIB). La colonne SEM principale fournit un large éventail de capacités pour l'imagerie et la caractérisation propres au site. Un environnement unique et robuste garantit que l'échantillon optimal est préservé avec un minimum de vibrations, minimisant le risque de dommages de l'échantillon. Le faisceau d'électrons est généré par un émetteur de canon à émission de champ thermionique (FEG) qui émet des électrons dans une plage d'énergie limitée. Cela garantit une meilleure qualité des images grâce à un meilleur contraste d'image caractérisé par une plus grande profondeur de mise au point et une meilleure sensibilité. En plus de l'imagerie SEM avancée, FIB-800XP comprend également un broyeur à faisceau ionique en colonne (IBM) pour les opérations FIB. L'IBM est alimenté par une source d'ions Ga pour un broyage et un dépôt FIB précis. Il a la capacité de construire des structures 3D avec une définition de structure haute résolution. Le 800XP dispose d'un détecteur numérique qui capture plus des émissions de la colonne, fournissant les images de la plus haute qualité pour l'analyse 3D. Le 800XP comprend également la capacité d'analyser la composition de surface avec la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). Ce système peut être utilisé pour capturer la distribution des éléments dans un échantillon ainsi que des informations sur la liaison chimique entre eux. Le 800XP fournit également le logiciel nécessaire à la manipulation automatisée du faisceau d'électrons pour l'imagerie analytique et la spectroscopie. Cela inclut des fonctionnalités d'automatisation avancées conçues pour maximiser l'efficacité, augmenter la précision des données et réduire les erreurs opérationnelles. Grâce à sa technologie à double faisceau, à l'imagerie SEM haute résolution, au fraisage FIB et aux capacités EDS, FEI FIB-800XP offre aux chercheurs un outil avancé et fiable pour leur recherche à l'échelle nanométrique. Par conséquent, ces capacités combinées à son design de pointe, ses caractéristiques flexibles et ses performances élevées en font une option idéale pour une variété de tâches d'imagerie et d'analyse.