Compagnie
Pourquoi CAE?
Notre histoire
Direction
Marché
Équipement de traitement frontal
Fours de diffusion et accessoires
Etchers/Ashers
Évaporateurs
Systèmes d'exposition
Écran plat
Implantateurs et moniteurs ioniques
Ion Milling
Lasers
Inspection des masques et des wafers
Aligneurs de masques
Équipement de traitement arrière
Bondeurs
Burn-in Systems
Die Attachers
Matériel d'essai électronique
Essai final
Dresseurs
Lasers
Machines de marquage
Fours
Emballage
Équipement d'assemblage et de fabrication de panneaux PC
Assemblage et fabrication de panneaux PC
PC Board Test
Machines à souder les PCB
Alimentation électrique
Pièces de rechange
Rayons X
Machines de placement
Imprimantes à écran
Inspection du conseil d'administration du PC
Fours de recharge
Matériel de laboratoire
Centrifugeurs
Ellipsomètres
Chambres pour l'environnement
Matériel de laboratoire et accessoires
Hottes laminaires d'écoulement et de fumée
Lasers
Détecteurs de fuites
Microscopes
Comparateurs optiques
Fours
Équipement des installations
Refroidisseurs - Industriels
Refroidisseurs - Recirculation, échangeurs de chaleur
Équipement des installations
Armoires à gaz
Détecteurs de fuites
Machines-outils
Compteurs de particules
Alimentation électrique
Pompes
Analyseurs de gaz résiduaires
Voir tout
Carrières
Offres d’emploi
Programme de formation
Contacts
Chercher
0
English
Deutsch
한국어
日本語
中文(繁體)
中文(简体)
Marché
Microscopes électroniques à balayage
FEI
Inspect-F
#293759671
Occasion FEI Inspect-F #293759671 à vendre en France
Partager
E-mail
Facebook
Twitter
Weibo
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
Prix de la demande
Ajouter au panier
Supprimer du panier
Microscopes électroniques à balayage
Fabricant
FEI
Modèle
Inspect-F
Détails sur l'équipement
Commentaires
ID:
293759671
Scanning Electron Microscope (SEM).
Lire plus
Fermer
Il n'y a pas encore de critiques
Ajouter un commentaire
CAE utilise des cookies pour améliorer votre interaction avec le site Web.
Oui, je suis d'accord
Politique de cookies
