Occasion FEI Inspect-F #9284147 à vendre en France

FEI Inspect-F est un système de microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour analyser et examiner structurellement une variété de matériaux et de dispositifs semi-conducteurs. Inspect-F offre des capacités d'imagerie basse tension qui offrent une gamme d'options, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie cathodoluminescente. L'imagerie basse tension aide à fournir des images détaillées des couches superficielles des échantillons, permettant l'imagerie d'échantillons ultra-minces qui sont trop petits pour les SEM normaux. FEI Inspect-F a une résolution supérieure jusqu'à 1nm, une fonctionnalité qui permet de prendre des vues amplifiées des caractéristiques nanométriques d'un matériau. Il est également équipé d'un processeur de signal numérique qui aide à enregistrer et traiter les images rapidement. En termes de précision, ce SEM dispose d'un système automatisé de correction de la dérive à l'état solide qui aide à maintenir la position du spécimen dentrogride exacte à différents grossissements ; cela aide à maintenir la précision de positionnement pour l'imagerie et augmente la vitesse de l'analyse des échantillons. L'instrument dispose d'une chambre de verrouillage de charge couplée à une station d'échange automatisée, donnant à l'utilisateur une grande variété d'options pour la manipulation et l'analyse des échantillons. Cela comprend des choses comme la sélection d'échantillons, le nettoyage et la préparation. La chambre d'échantillonnage peut être refroidie ou chauffée pour s'assurer que l'échantillon est toujours maintenu dans les paramètres de fonctionnement optimaux tout en étant vu. Inspect-F comprend une variété d'options d'imagerie avancées telles que la détection automatique de fonctionnalités, la couture d'images, l'imagerie 3D, et plus encore. Cela permet de mieux comprendre le spécimen analysé. À des fins de recherche, la FEI Inspect-F comprend un large éventail d'outils d'analyse tels que des faisceaux d'électrons, des détecteurs d'électrons, des systèmes de traitement de signaux, des logiciels de traitement d'images, etc. Avec ceux-ci, les utilisateurs peuvent cartographier même les détails les plus minuscules des caractéristiques d'un spécimen. Inspect-F est un outil avancé et puissant qui fournit une analyse et un examen approfondis de tout spécimen. Ce microscope électronique à balayage dispose d'une variété de caractéristiques avancées et d'outils d'imagerie qui augmentent la précision des données obtenues et la vitesse de l'analyse des échantillons. Ses caractéristiques, combinées à sa résolution extraordinaire jusqu'à 1nm, font de cet instrument un incontournable pour tout chercheur cherchant à explorer les détails complexes des matériaux et des dispositifs.