Occasion FEI Inspect F50 #9224409 à vendre en France

FEI Inspect F50 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'analyse non destructive des matériaux. Il offre une gamme de fonctionnalités pour fournir la technologie d'imagerie de la plus haute qualité, y compris la conception avancée et l'ingénierie pour un débit d'échantillon plus élevé, une excellente résolution et précision. Inspecter F50 est équipé d'un détecteur de filtre d'énergie dans la colonne, qui peut améliorer la résolution et fournir une imagerie plus précise des structures fines dans les échantillons. De plus, le détecteur en colonne est réglable pour assurer l'équilibre idéal entre le contraste et le champ de vision global. Cela permet aux opérateurs d'obtenir un contraste et une qualité d'image optimaux, ce qui est particulièrement utile pour la visualisation de couches minces de matériau. Le détecteur d'énergie dans la colonne réduit également la dose ionisante totale (TID) reçue par les échantillons, ce qui le rend idéal pour les matériaux sensibles aux dommages. FEI Inspect F50 propose également une variété d'options d'imagerie avancées, y compris l'imagerie par rétrodiffusion d'électrons (ESB), l'imagerie à pression variable et l'imagerie par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Le mode électronique rétrodiffusé du SEM permet aux opérateurs de détecter la composition élémentaire et l'état chimique des échantillons. L'imagerie à pression variable fournit une imagerie de meilleure qualité sous vide, ce qui la rend idéale pour des applications impliquant des modifications chimiques, telles que la cartographie de la corrosion et l'imagerie d'échantillons hydratés. Enfin, l'imagerie EBSD peut être utilisée pour analyser la structure cristallographique des échantillons, ce qui offre un aperçu important de leurs propriétés et de leur comportement. Inspecter F50 dispose également d'une gamme de fonctionnalités conviviales pour rendre la préparation, l'imagerie et l'analyse des échantillons simples et simples. Par exemple, le moteur de scène offre une large gamme de déplacements avec contrôle xyz et thêta, de sorte que les utilisateurs peuvent déplacer rapidement et avec précision leurs échantillons en position pour l'imagerie. En outre, la console d'opérateur offre un accès facile à toutes les fonctions et paramètres de microscopie, permettant aux experts comme aux nouveaux arrivants d'utiliser les capacités du SEM. Dans l'ensemble, le FEI Inspect F50 est un excellent SEM pour la recherche et l'analyse de matériaux. Sa combinaison de capacités d'imagerie avancées et d'un système d'exploitation intuitif en font un choix idéal pour les laboratoires de recherche et l'industrie.