Occasion FEI Inspect S50 #293605298 à vendre en France
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Vendu
ID: 293605298
Style Vintage: 2017
Scanning Electron Microscope (SEM)
Gun type: W
Motor stage: X, Y, Z, R, T
Vacuum: Turbo, rotary
Manual
2017 vintage.
FEI Inspect S50 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'imagerie haut de gamme capable de générer des images extrêmement détaillées de petits objets à des grossissements élevés. Il utilise un raster concentré d'électrons pour l'image à travers une gamme de grossissements, et a la capacité de capturer une variété de propriétés physiques et chimiques. Inspect S50 offre une gamme complète de capacités d'imagerie, avec son excellente détection de signal, une cartographie chimique et élémentaire précise, et des capacités de spectroscopie X précises. Son logiciel spécialisé permet une analyse précise des données d'une gamme de matériaux. En raison de son haut niveau de résolution, FEI Inspect S50 est capable d'imager des caractéristiques à l'échelle nanométrique. Le grossissement du microscope peut aller de 2500x à 120000x, et dispose d'un large champ de vision. La profondeur exceptionnelle du champ permet aux chercheurs de capturer de grands échantillons à fort grossissement avec une clarté et une précision remarquables. Les limites élevées de détection, tant en termes de résolution spatiale que de profondeur de focalisation, rendent Inspect S50 idéal pour examiner les structures fines et identifier et quantifier les couches ultra-minces dans les échantillons. Les capacités d'imagerie supérieures offrent également d'excellentes informations 3D et une cartographie haute résolution des micro-défauts et des particules dans un large éventail de matériaux. En plus de ses capacités d'imagerie exceptionnelles, FEI Inspect S50 offre également des outils d'analyse avancés, y compris la spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS) et à dispersion de longueur d'onde (WDS) pour identifier la composition chimique et élémentaire des échantillons. Cela signifie que les utilisateurs peuvent analyser avec précision et précision les compositions matérielles de leurs échantillons. Dans l'ensemble, Inspect S50 est un outil extrêmement utile pour les scientifiques et les chercheurs qui ont besoin d'un système d'imagerie puissant et polyvalent pour les aider dans leurs recherches. Ses excellentes capacités d'imagerie et ses outils d'analyse haut de gamme en font un choix idéal pour ceux qui exigent une analyse et une imagerie détaillées et précises des petits objets.
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