Occasion FEI Inspect S50 #293624510 à vendre en France

FEI Inspect S50 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour la recherche et l'analyse des matériaux. Ce SEM haute résolution permet une imagerie rapide et précise sur de larges surfaces avec un grossissement jusqu'à 500.000x. Inspecter S50 dispose d'un détecteur numérique spécifique pour l'imagerie topographique sur les matériaux organiques et inorganiques. Sa technique d'imagerie numérique par contraste de phase est capable de permettre aux utilisateurs d'inspecter différentes étapes de développement dans les systèmes biologiques, des parois cellulaires aux biomolécules particulières. Sa technologie de contrôle numérique en boucle fermée fournit un balayage précis avec une longue durée de vie opérationnelle et une acquisition rapide de données, produisant une imagerie de contraste élevé. Les caméras CCD intégrées et les contrôleurs d'image disposent de capacités avancées de traitement d'image et de filtrage à la volée. Ces capacités d'imagerie, couplées à une interface utilisateur intuitive, permettent aux opérateurs ayant une expérience SEM limitée de produire des résultats fiables et reproductibles. FEI Inspect S50 offre également un certain nombre d'options d'automatisation avancées telles que le balayage rapide automatisé dans de grands champs de vision, le piquage automatisé des images et l'analyse automatisée des données. Le système de correction chromatique et d'orientation pré-balayage de bord réduit le temps d'analyse en aval et améliore le débit. Inspecter S50 est également équipé d'une chambre environnementale. Cela permet aux utilisateurs d'effectuer l'imagerie et la mesure d'échantillons découverts dans un environnement contrôlé. Des caractéristiques telles que le chauffage et le refroidissement intégrés, le contrôle automatisé du débit de gaz et la surveillance de l'environnement des échantillons permettent de maintenir des conditions environnementales précises même pour les échantillons les plus délicats. En résumé, FEI Inspect S50 est un SEM haute résolution qui offre des capacités d'imagerie et d'automatisation avancées pour des résultats fiables et reproductibles. Il est capable de produire des images topographiques à des grossissements allant jusqu'à 500 000 x, et sa chambre d'environnement lui permet de fournir des images et des mesures d'échantillons découverts dans un environnement contrôlé. Ce système le rend bien adapté à toute analyse de matériaux et à toute application de recherche.