Occasion FEI Inspect S50 #9150862 à vendre en France

FEI Inspect S50 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une combinaison unique de capacités d'imagerie, d'analyse et de tomographie 3D rapide. Le S50 a une résolution de 0,8nm lui permettant de produire des images avec un détail exceptionnel. Il dispose également d'une grande distance de travail de 300mm, permettant aux utilisateurs de produire des échantillons d'images jusqu'à 120x160mm en taille rapidement et facilement. Inspecter S50 a également un type supplémentaire de détecteur d'électrons, qui permet aux utilisateurs de mesurer l'épaisseur et la composition des échantillons sans les endommager. Ceci est réalisé grâce au détecteur EBSD (Electron Backscatter Diffraction). Le détecteur EBSD peut également être utilisé pour mesurer le stress et la souche dans les échantillons in situ. Le S50 offre également une gamme d'autres fonctionnalités. Il a la capacité de mesurer des couches minces dans la gamme nanométrique. Ceci est rendu possible par le système de microfaisceaux, qui fournit une acquisition de données répétable avec jusqu'à 4KV tension d'accélération. Le S50 est également livré avec un spectromètre intégré, permettant aux utilisateurs de mesurer les émissions de rayons X ou les spectres rétrodiffusés pour déterminer avec précision la composition du matériau. En outre, le S50 est capable de tomographie 3D avancée. Avec une résolution tridimensionnelle allant jusqu'à 43nm, les utilisateurs peuvent générer des reconstructions de structures minuscules avec des détails sans précédent. Le S50 offre également des fonctionnalités d'imagerie avancées, telles que le piquage automatisé, qui permet aux utilisateurs de piquer des images ensemble pour générer une image plus grande avec plus de détails d'image. Dans l'ensemble, FEI Inspect S50 est un excellent microscope électronique à balayage pour des tâches d'imagerie, d'analyse et de tomographie 3D. Avec sa résolution exceptionnelle, sa grande distance de travail, son large éventail de détecteurs et ses caractéristiques d'imagerie avancées, le S50 est capable de produire des images détaillées et précises d'échantillons de différentes tailles et matériaux.