Occasion FEI Inspect S50 #9159235 à vendre en France
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ID: 9159235
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary Electron Detector (SED)
Large Field Detector (LFD) low vacuum
GBSD Included
IR Camera for viewing sample in chamber
Electron beam current measurement
Color optical camera for sample navigation
Tungsten hair pin type
TMP Vacuum system
Fully motorized stage system
XL 30 Chamber system
USB Connecting board nonfunctional
70 l/s Turbo Molecular Pump (TMP)
Patented through-lens differential pumping
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Oil rotary pump
Chamber vacuum (High): 9.10-4 Pa
Chamber vacuum (Low) < 10 to 270 Pa
Evacuation time:
≤ 150 s to (High vacuum)
≤ 270 s to (Low vacuum)
Low vacuum:
3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)
10 nm at 3 kV (SE)
Sample holders:
Multi-stub holder
Single stub mount
Mounts directly on to stage
Wafer and custom holder
Does not include:
Scintillator BSED / CLD
Low Voltage Contrast Detector (VCD)
High Contrast Detector (CD)
Gaseous Analytical BSED (GAD)
Cathodoluminescence
WDS and EBSD
Stem detector
Packing list:
Main chamber with desk for display
(2) Control PCs
(2) Monitors
Oil rotary pump
Control pad
Keyboard
Operating system: Windows 2000
2010 vintage.
FEI Inspect S50 est un microscope électronique à balayage polyvalent et fiable (SEM). Ce microscope grossissant a une plage de grossissement allant jusqu'à cinquante mille fois, ce qui le rend idéal pour des applications nécessitant des détails supérieurs. Il peut utiliser des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des systèmes de détection à travers la lentille pour observer l'échantillon désiré. L'équipement utilise un processus unique de détection dans les lentilles pour maximiser la précision et créer des images claires de l'échantillon. Comme avantage supplémentaire, ce détecteur minimise les interférences matricielles et élimine les distorsions, ce qui donne des images supérieures aux autres SEM. Inspect S50 offre une large gamme de fonctionnalités conviviales qui en font un choix idéal pour ceux qui ont besoin d'un microscope électronique à balayage précis et efficace. Le système comprend un détecteur de rayons X numérique, une unité de correction automatique de la dérive et des capacités de balayage rapide qui le rendent facile à utiliser et fournissent une imagerie de spécimen efficace. En plus de ses capacités complètes de numérisation, FEI Inspect S50 offre également plusieurs systèmes périphériques pour une analyse plus approfondie. Il s'agit notamment d'une machine cryogénique pour une meilleure régulation de la température, ainsi que d'un microscope électronique à balayage environnemental (ESEM) pour des analyses spécialisées, comme l'imagerie sous ultra-vide. Les autres caractéristiques comprennent l'étalonnage entièrement automatisé, les techniques de balayage avancées, la conception de détecteurs doubles pour une capacité d'analyse supérieure, et une grande collection d'accessoires. Inspecter S50 offre une capacité d'imagerie haute performance et une variété de fonctionnalités, ce qui en fait l'outil idéal pour les échantillons nécessitant une résolution et des détails élevés. Sa conception facile à utiliser et ses systèmes périphériques complets en font un choix idéal pour une variété d'applications spécialisées.
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