Occasion FEI Inspect S50 #9159235 à vendre en France

ID: 9159235
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary Electron Detector (SED) Large Field Detector (LFD) low vacuum GBSD Included IR Camera for viewing sample in chamber Electron beam current measurement Color optical camera for sample navigation Tungsten hair pin type TMP Vacuum system Fully motorized stage system XL 30 Chamber system USB Connecting board nonfunctional 70 l/s Turbo Molecular Pump (TMP) Patented through-lens differential pumping Beam gas path length: 10 mm / 2 mm Oil rotary pump Chamber vacuum (High): 9.10-4 Pa Chamber vacuum (Low) < 10 to 270 Pa Evacuation time: ≤ 150 s to (High vacuum) ≤ 270 s to (Low vacuum) Low vacuum: 3.0 nm at 30 kV (SE) 4.0 nm at 30 kV (BSE) 10 nm at 3 kV (SE) Sample holders: Multi-stub holder Single stub mount Mounts directly on to stage Wafer and custom holder Does not include: Scintillator BSED / CLD Low Voltage Contrast Detector (VCD) High Contrast Detector (CD) Gaseous Analytical BSED (GAD) Cathodoluminescence WDS and EBSD Stem detector Packing list: Main chamber with desk for display (2) Control PCs (2) Monitors Oil rotary pump Control pad Keyboard Operating system: Windows 2000 2010 vintage.
FEI Inspect S50 est un microscope électronique à balayage polyvalent et fiable (SEM). Ce microscope grossissant a une plage de grossissement allant jusqu'à cinquante mille fois, ce qui le rend idéal pour des applications nécessitant des détails supérieurs. Il peut utiliser des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des systèmes de détection à travers la lentille pour observer l'échantillon désiré. L'équipement utilise un processus unique de détection dans les lentilles pour maximiser la précision et créer des images claires de l'échantillon. Comme avantage supplémentaire, ce détecteur minimise les interférences matricielles et élimine les distorsions, ce qui donne des images supérieures aux autres SEM. Inspect S50 offre une large gamme de fonctionnalités conviviales qui en font un choix idéal pour ceux qui ont besoin d'un microscope électronique à balayage précis et efficace. Le système comprend un détecteur de rayons X numérique, une unité de correction automatique de la dérive et des capacités de balayage rapide qui le rendent facile à utiliser et fournissent une imagerie de spécimen efficace. En plus de ses capacités complètes de numérisation, FEI Inspect S50 offre également plusieurs systèmes périphériques pour une analyse plus approfondie. Il s'agit notamment d'une machine cryogénique pour une meilleure régulation de la température, ainsi que d'un microscope électronique à balayage environnemental (ESEM) pour des analyses spécialisées, comme l'imagerie sous ultra-vide. Les autres caractéristiques comprennent l'étalonnage entièrement automatisé, les techniques de balayage avancées, la conception de détecteurs doubles pour une capacité d'analyse supérieure, et une grande collection d'accessoires. Inspecter S50 offre une capacité d'imagerie haute performance et une variété de fonctionnalités, ce qui en fait l'outil idéal pour les échantillons nécessitant une résolution et des détails élevés. Sa conception facile à utiliser et ses systèmes périphériques complets en font un choix idéal pour une variété d'applications spécialisées.
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