Occasion FEI Nova NanoSEM 230 #293647256 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage (SEM) de nouvelle génération FEI Nova Nand SEM 230 offre des performances améliorées et un débit accéléré, ainsi que le grossissement le plus élevé. Avec un filament de tungstène, ce workhorse SEM dispose de transfert d'échantillon optimisé et la manipulation afin que les utilisateurs peuvent obtenir de meilleurs résultats, plus rapidement. Sa résolution inégalée jusqu'à 1,6nm le rend idéal pour visualiser des atomes et des molécules uniques et pour l'imagerie de nanoparticules et de défauts de semi-conducteurs en 3D haute résolution. L'une des innovations majeures de Nova NPENDANT 230 est sa tension variable dans la gamme de 100V à 30kV qui permet un contrôle fin du faisceau d'électrons. Cela permet aux utilisateurs de réaliser une imagerie de haute qualité avec un équilibre parfait entre la vitesse, la résolution et le rapport signal sur bruit. De plus, le grossissement et la résolution élevés fournissent des données topologiques et morphologiques supérieures. Les contrôles du nanosème sont intuitifs et conviviaux, ce qui facilite l'apprentissage et l'utilisation. Le microscope est livré avec une interface utilisateur graphique avec rétroaction en temps réel, ainsi qu'un logiciel d'imagerie avancé offrant des fonctions automatisées d'optimisation d'image et d'analyse d'image. L'automatisation du SEM permet également une manipulation rapide et facile des échantillons. Le balayage XY de précision contrôlé par un étage piézo intégré assure un fonctionnement rapide et un mouvement précis de l'échantillon. Le SEM dispose d'une gamme d'options de montage d'échantillons et peut accueillir une variété de matériaux. De plus, la grande chambre à vide permet d'obtenir un échantillon plus large pour la coloration et le revêtement de plusieurs échantillons. Le FEI Nova Nof SEM 230 propose également un choix de détecteurs, y compris des détecteurs à balayage lent, à ultra haute résolution ou à rayons X dispersifs d'énergie. Elles offrent un rendement élevé, de faibles performances sonores et une excellente détectabilité. De plus, la géométrie de haute précision de Nova Nand SEM 230 réduit le temps mort du détecteur, contribuant à augmenter les taux de comptage jusqu'à cinq fois. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage FEI Nova NPENDANT 230 est parfait pour caractériser les matériaux jusqu'au niveau moléculaire. Grâce à son grossissement élevé, à son contrôle de tension variable, à son interface utilisateur intuitive et à ses capacités de manipulation d'échantillons conviviales, Nova NéterminSEM 230 est l'outil ultime pour l'imagerie à l'échelle nanométrique.