Occasion FEI Nova NanoSEM 230 #293695404 à vendre en France

FEI NOVA NANOSEM 230 est un état du balayage du microscope électronique (SEM) d'art conçu à l'utilisation dans les laboratoires de recherche et les sites de production. Ce SEM avancé offre des capacités d'imagerie supérieures tout en occupant moins d'espace que les autres modèles. Nova Nand SEM 230 est capable d'obtenir une imagerie à résolution atomique lorsqu'il est couplé avec les conditions d'imagerie correctes. Cela le rend idéal pour les scientifiques et les ingénieurs qui ont besoin de visualiser des atomes et des molécules individuels dans le cadre de leurs travaux de recherche ou de développement. FEI Nof SEM 230 utilise une variété de technologies innovantes pour fournir une qualité et une résolution d'imagerie supérieures. Il est équipé d'un instrument à faisceau d'électrons à focalisation électro-optique qui permet l'imagerie d'échantillons à résolution nanométrique. Cette fonctionnalité fait de FEI un choix idéal pour visualiser la structure atomique d'un échantillon, ainsi que pour observer les détails plus fins d'un échantillon à des niveaux de grossissement élevés. En plus de l'instrument à faisceau d'électrons, le système de contrôle des canons et des canons de la FEI Nova N.SEM 230 comprend trois autres composants, soit l'équipement de contrôle des filaments, le système de contrôle des canons et des canons et le détecteur. L'unité de contrôle du filament se compose d'une alimentation à courant variable, de canons à électrons et de déflecteurs qui sont utilisés pour contrôler la divergence du faisceau et la taille des taches. Le pistolet et la machine de contrôle de canon assurent que le faisceau d'électrons conserve sa forme focalisée pendant l'imagerie. Le détecteur est un détecteur à rayons X qui fournit des informations sur la composition élémentaire et la structure chimique d'un échantillon. FEI NOF SEM 230 est capable d'imiter un large éventail de matériaux, notamment les métaux, les plastiques, les composites, les diélectriques, les semi-conducteurs et les matières organiques. Il propose également différents modes d'imagerie tels que l'imagerie rétrodiffusée, la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), le profilage de profondeur peu profonde (SDP) et l'imagerie cryogénique pour explorer des échantillons plus froids. Dans l'ensemble, Nova Nand SEM 230 est un SEM de pointe qui fournit aux scientifiques des capacités d'imagerie haute résolution et une grande variété de modes d'imagerie. Il peut être utilisé pour l'image d'un large éventail de matériaux et a la capacité d'obtenir une imagerie à résolution atomique lorsqu'il est couplé avec les conditions correctes. Cette combinaison fait de FEI Nof SEM 230 un outil essentiel pour la recherche et le développement de haut niveau dans le domaine de la microscopie électronique à balayage.