Occasion FEI Nova NanoSEM 230 #9074929 à vendre en France

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ID: 9074929
Style Vintage: 2008
EDS Electron microscope EDAX Detector unit, model: PV7760/68 ME Immersion lens or through the lens detector X-ray detector for EDS semi-quant work Magnification: 100,000 X Field emission electron source Probe current: 10 nA, 22 nA Beam acceleration voltage: 200 V to 30,000 V Includes beam deceleration option Beam impact energy minimal: 50 V (6) Electron image signal detectors: In-lens secondary electron detector , (TLD-SE) In-lens BSE detector, (TLD-BSE) Everhart - Thornley detector, (ETD) Solid state scanning transmitted electron detector, (STEM) Gaseous analytical detector, (GAD) Low vacuum secondary electron detector, (LVD) low kV backscattered electron detector: available, but not in use yet Resolution at optimum working distance: 1.0 nm at 15 kV : TLD-SE 1.6 nm at 1 kV : TLD-SE 0.8 nm at 30 kV : STEM Also includes: Motorized 4 axis stage X-ray energy dispersive spectrometer, (EDS) Microscope Microscope PC with monitor Support PC with monitor DV14PRO Switch Edwards vacuum scroll pump Electronic console Haskris air cooled water chiller Jun Aire compressor Table Pumps and electrical lines Software and installation CDs Tool box with spare parts Currently installed.
FEI Nova Nof SEM 230 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des performances supérieures et une qualité d'imagerie inégalée. Il utilise un détecteur d'électrons à haute énergie ainsi qu'un pistolet d'émission de champ pour obtenir des images à haute résolution et fournir des détails inégalés des échantillons. De plus, la technologie avancée d'imagerie de 2e et 3e générations du Nof SEM 230 dispose de courant de faisceau variable et de tension d'accélération, et de capacités étendues à faible dose pour des résultats d'imagerie supérieurs. Avec une distance de travail de 0,8 m qui permet un positionnement et des manipulations faciles, le NOF SEM 230 dispose d'une grande chambre pour recevoir des échantillons. Sa conception basse vibration présente une stabilité et une sensibilité au balayage améliorées, améliorant les performances d'imagerie. Pour améliorer encore l'imagerie, le SEM est livré avec un bras de détection pivotant FlexSEM, permettant une variété d'angles de vue. Le bras pivotant permet également une plus grande flexibilité lors de la commutation entre les modes d'imagerie et d'analyse. Nova Nand SEM 230 dispose d'une plate-forme logicielle sophistiquée, intégrant toutes les fonctions SEM dans une interface facile à utiliser. Les fonctions avancées du logiciel contrôlent les paramètres du SEM pour optimiser l'analyse d'échantillons et l'acquisition d'images. En outre, le logiciel comprend un traitement d'image sophistiqué, une analyse de surface et des capacités de superposition. Ces caractéristiques permettent aux scientifiques de prévoir comment les changements aux paramètres d'analyse affecteront les résultats d'imagerie avant l'expérience réelle ou de déterminer la composition exacte d'un échantillon, en fournissant une précision et une précision inégalées. Construit pour durer, le NobilSEM 230 offre des performances supérieures avec une fiabilité à long terme. Sa conception avancée minimise les vibrations pour améliorer l'imagerie et réduit le besoin d'entretien régulier. Grâce à son interface utilisateur intuitive, sa facilité pour les utilisateurs de maîtriser rapidement l'instrument et ses fonctions. La performance et la précision supérieures de FEI Nova Nand SEM 230 en font un outil puissant pour les scientifiques intéressés à produire des résultats d'analyse détaillés et des images exactes. Le système avancé du SEM et le logiciel présentent la flexibilité augmentée et l'exactitude, en rendant NanoSEM 230 un choix idéal pour une variété d'applications.
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