Occasion FEI Nova NanoSEM 230 #9150375 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage avancé FEI Nova NOF 230 est conçu pour produire des images à haute résolution de matériaux jusqu'à un niveau nanométrique. Cet instrument ultra haute résolution utilise des faisceaux d'électrons pour scanner et générer des images détaillées d'échantillons, ce qui en fait un outil puissant d'analyse et d'observation de divers matériaux et nanostructures. La gamme d'énergies de faisceaux d'électrons NVSEM 230, allant de 2 keV à 30 keV, avec une taille de tache de faisceau encore inférieure à 10 nm lorsque l'on opère à 40 kV. Cette résolution convient à la caractérisation de petites structures et de nanomatériaux. Le système est équipé d'un ensemble de détecteurs de pointe, permettant la détection simultanée d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés et d'électrons transmis. Cela permet à l'utilisateur de visualiser l'échantillon dans de nombreuses directions différentes, créant ainsi une image beaucoup plus claire. Les images à haute résolution fournies par Nova NPENDANT 230 sont utiles pour de nombreuses applications, telles que l'imagerie de structures magnétiques, l'étude de la conductance dans les nanofils, la mesure des propriétés électriques des couches minces, la caractérisation des micro- et nanostructures et la visualisation de la structure des matériaux amorphes à l'échelle nanométrique. Le faisceau d'électrons peut également être utilisé pour effectuer l'imagerie, la gravure et le dépôt. De plus, le dispositif à double faisceau permet l'imagerie tridimensionnelle de l'échantillon. L'instrument est équipé d'un système automatique de contrôle de la température et de l'humidité et d'une turbo-pompe pour réduire la pression de la chambre de fonctionnement et minimiser les effets des molécules de gaz entre l'échantillon et le détecteur d'électrons. Il est exploité à partir d'un écran tactile Windows 10, ce qui permet à l'utilisateur de contrôler facilement l'instrument et d'accéder aux données enregistrées. Le FEI Nova Nof SEM 230 est un puissant instrument électronique à balayage idéal pour l'analyse des nanomatériaux et l'imagerie des nanostructures. Grâce à ses capacités d'ultra haute résolution, à ses détecteurs ultramodernes et à son large éventail d'énergies de faisceaux, le NVSEM 230 fournit des images inestimables de matériaux à l'échelle nanométrique.