Occasion FEI Nova NanoSEM 230 #9397633 à vendre en France

FEI Nova Nof SEM 230 est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM). Basé sur les principes de conception ingénieux de FEI Field Emission Electron Optics, le NémoSEM offre des niveaux de performance améliorés pour les capacités d'imagerie, d'analyse et de microscopie dans les domaines liés aux nanotechnologies. En termes de matériel, Nova Nand SEM 230 est capable de fournir un grossissement de 1kx à 300kx et utilise une puissance de lancement de 0.5-30kV.The large gamme dynamique du système d'imagerie permet de distinguer facilement des caractéristiques de surface complexes tout en permettant l'étude de plus grandes caractéristiques telles que les nanoparticules. Grâce à sa tension d'accélération variable et à sa fonctionnalité de correcteur d'aberration sphérique, le système est en mesure de fournir des images rapides et détaillées de caractéristiques à petite échelle posées dans une orientation spécifique pour fournir aux opérateurs une vue complète de leur échantillon. Utilisant à la fois des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés, le NVSEM offre quatre modes de détection, permettant ainsi d'effectuer diverses tâches d'analyse. Les capacités d'imagerie de l'équipement sont encore améliorées par son algorithme de correction de dérive (ACD), qui corrige automatiquement les déviations dans le positionnement des spécimens du SEM pendant l'imagerie afin d'assurer des résultats stables. En outre, la fonction avancée de compensation de désalignement des détecteurs de Nof SEM minimise le flou et la distorsion dans les images pour une imagerie précise, même à des grossissements plus élevés. Le SEM est conçu pour être convivial, avec un écran tactile intuitif. Le contrôle est assuré par le logiciel FEI FEGSEM v2, qui intègre le fonctionnement automatisé SEM avec de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse. En résumé, le FEI Nova NhovSEM 230 est un excellent choix pour les experts en nanotechnologie, offrant une combinaison de haute puissance, de résolution et de précision qu'aucun autre système ne peut égaler. En tant que tel, il offre une plate-forme robuste pour visualiser, analyser et interpréter des échantillons de matériaux complexes à l'échelle nanométrique.