Occasion FEI Nova NanoSEM 400 #9282097 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage FEI Nova Nfor SEM 400 (SEM) est l'un des instruments les plus avancés de sa catégorie. Ce SEM utilise un détecteur d'électrons à haute résolution qui capture des images à haute résolution d'échantillons dans une variété de matériaux, y compris des métaux, des polymères, des composites, des composites de bois et des semi-conducteurs. Les images qu'il produit sont jusqu'à dix fois plus brillantes que les méthodes d'imagerie traditionnelles et peuvent agrandir des échantillons jusqu'à 400 000 fois leur taille originale. Nova Nand SEM 400 dispose d'une large gamme de fonctionnalités qui lui permettent de fournir des images de haute qualité. L'objectif de poids élevé offre une magnifique qualité d'image sur une large gamme de grossissements. Son étage motorisé à faible vibration permet aux utilisateurs d'effectuer des mouvements rapides et précis afin de prendre des mesures précises ou de cartographier les caractéristiques d'un échantillon. De plus, le FEI Nova NécurSEM 400 permet une navigation facile grâce à des images d'échantillons détaillées grâce à sa fonction de navigation automatisée qui guide automatiquement le faisceau d'électrons sur l'ensemble de l'échantillon en quelques secondes. Ce microscope électronique à balayage est également équipé d'un détecteur à rayons X dispersif en énergie qui permet l'analyse de la composition élémentaire au sein de l'échantillon. Ce système est idéal pour analyser la ségrégation des alliages et la concentration d'éléments spécifiques, ainsi que pour mesurer le rapport des différents éléments dans l'échantillon. De plus, le NOF SEM 400 comprend un système d'imagerie hyper-spectrale qui permet aux chercheurs de capturer simultanément une variété d'images de plusieurs longueurs d'onde et d'obtenir une vue holistique de l'échantillon. Nova Nand SEM 400 offre une analyse polyvalente des échantillons. Il est capable de produire des images 2D et 3D avec des résolutions aussi basses que 4nm. Il convient également pour l'imagerie de matériaux non conducteurs tels que des échantillons biologiques, des échantillons géologiques et des minéraux. Il peut même être utilisé pour mesurer la déformation de matériaux, tels que la nucléation et la croissance de nouvelles caractéristiques dues à la contrainte mécanique. Dans l'ensemble, le FEI Nova NhouseSEM 400 est un outil extrêmement puissant et précis, offrant des performances bien supérieures à celles des techniques d'imagerie traditionnelles. Il est parfait pour une variété d'applications automatisées d'analyse et d'inspection dans les paramètres de recherche et de contrôle de la qualité.