Occasion FEI Nova NanoSEM 450 #293809852 à vendre en France
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ID: 293809852
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
High vacuum imaging, optimum WD
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)
1.4 nm at 1 kV (TLD-SE) without beam deceleration
3.5 nm at 100 V (DBS)
High vacuum analysis, analytical WD
3.0 nm at 15 kV and 5 nA (TLD-SE)
Low vacuum imaging, optimum WD
1.5 nm at 10 kV (Helix detector)
1.8 nm at 3 kV (Helix detector)
Detectors:
In-lens SE Detector (TLD-SE)
In-lens BSE Detector (TLD-BSE)
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LVD)
IR-CCD
High sensitivity low kV Directional Backscattered Detector (DBS), Lens-mount
TV-Rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
Stage:
Type: Eucentric goniometer stage, 5-axes motorised
XY: 110x110mm DC motors
Repeatability inf 2.0 µm (at0° tilt)
Z: 25 mm
R: nx360°
Tilt: -15°/+75°
Analytical working distance: 5 mm
Accessories:
GIS Carbon
GIS Platinum
Plasma cleaner
PC Support
User manual interface.
FEI Nova Nof SEM 450 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution des micro et nanomètres. Cet équipement de pointe est doté d'un canon à électrons à émission de champ refroidi par supraconduction, d'un déflecteur à grande vitesse et d'un détecteur à ultra-haute résolution pour des performances d'imagerie inégalées. La technologie utilise un équipement à vide ultra élevé pour permettre un plus grand espace à remplir d'électrons entre les colonnes, ce qui se traduit par une plus grande résolution et une meilleure qualité des images. Cela aide à réduire le flou d'image et à supprimer le bruit dans les résultats d'imagerie. De plus, la faible énergie du faisceau d'électrons se dissipe rapidement avant qu'elle ne puisse endommager l'échantillon. La luminosité élevée de la source et la petite taille des taches permettent une résolution jusqu'à 1nm, ce qui signifie que de plus petites régions d'un échantillon peuvent être vues. Avec une plus grande résolution que n'importe qui auparavant, Nova SEM 450 peut discerner plus de détails dans un échantillon que jamais auparavant. L'interface conviviale sur la SE, avec le dernier système d'exploitation Windows, rend le traitement des données rapide et efficace. Tous les composants de l'unité sont intégrés afin que les utilisateurs puissent rapidement ajuster leurs paramètres et outils. La machine de détection sur FEI Nova Npendant SEM 450 offre un outil d'imagerie intellectuelle amélioré pour l'analyse détaillée. Cela permet de collecter plusieurs signaux, y compris des électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi que d'autres signaux. L'actif détecteur élimine également la plupart des signaux qui peuvent interférer avec le processus d'imagerie. De nombreuses autres caractéristiques telles que l'étape d'échantillonnage automatisé, le mouvement motorisé des lentilles, les procédures d'étalonnage automatisées, le chauffage et le refroidissement des échantillons et la capacité d'écriture intégrée du faisceau électronique vont de pair avec Nova Nand SEM 450 pour fournir la collecte de données de la plus haute qualité pour un microscope électronique à balayage. Avec son logiciel intuitif et sa résolution d'imagerie supérieure, le FEI Nand SEM 450 est l'un des meilleurs microscopes électroniques à balayage disponibles aujourd'hui.
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