Occasion FEI Nova NanoSEM 450 #9070198 à vendre en France

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ID: 9070198
FE-SEM Manual user interface Support computer Helix detector Retractable STEM detector (STEMIII) DBS detector retractable GAD low-kV SSBSED 6-Channel detector amplifier Quick loader STEM III quickloader adaption; pre-tilted holder Plasma cleaner CryCleaner EC Nav-Cam SIS Scandium imagine software (4) SIS Scandium desktop license SIS Scandium solution height Network dongle licences 50 Correlative navigation 4" Wafer holder 6" Wafer holder BON UMB Specimen holder kit Acoustic enclosure for prevacuum pump 50-pin electrical feedthrough 7-pin Coax electrical feedthrough TEAM integration kit (4) Thermoflex Chiller, 50Hz.
FEI Nova Nof SEM 450 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution des micro et nanomètres. Cet équipement de pointe est doté d'un canon à électrons à émission de champ refroidi par supraconduction, d'un déflecteur à grande vitesse et d'un détecteur à ultra-haute résolution pour des performances d'imagerie inégalées. La technologie utilise un équipement à vide ultra élevé pour permettre un plus grand espace à remplir d'électrons entre les colonnes, ce qui se traduit par une plus grande résolution et une meilleure qualité des images. Cela aide à réduire le flou d'image et à supprimer le bruit dans les résultats d'imagerie. De plus, la faible énergie du faisceau d'électrons se dissipe rapidement avant qu'elle ne puisse endommager l'échantillon. La luminosité élevée de la source et la petite taille des taches permettent une résolution jusqu'à 1nm, ce qui signifie que de plus petites régions d'un échantillon peuvent être vues. Avec une plus grande résolution que n'importe qui auparavant, Nova SEM 450 peut discerner plus de détails dans un échantillon que jamais auparavant. L'interface conviviale sur la SE, avec le dernier système d'exploitation Windows, rend le traitement des données rapide et efficace. Tous les composants de l'unité sont intégrés afin que les utilisateurs puissent rapidement ajuster leurs paramètres et outils. La machine de détection sur FEI Nova Npendant SEM 450 offre un outil d'imagerie intellectuelle amélioré pour l'analyse détaillée. Cela permet de collecter plusieurs signaux, y compris des électrons secondaires et rétrodiffusés, ainsi que d'autres signaux. L'actif détecteur élimine également la plupart des signaux qui peuvent interférer avec le processus d'imagerie. De nombreuses autres caractéristiques telles que l'étape d'échantillonnage automatisé, le mouvement motorisé des lentilles, les procédures d'étalonnage automatisées, le chauffage et le refroidissement des échantillons et la capacité d'écriture intégrée du faisceau électronique vont de pair avec Nova Nand SEM 450 pour fournir la collecte de données de la plus haute qualité pour un microscope électronique à balayage. Avec son logiciel intuitif et sa résolution d'imagerie supérieure, le FEI Nand SEM 450 est l'un des meilleurs microscopes électroniques à balayage disponibles aujourd'hui.
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