Occasion FEI Nova NanoSEM 600 #293807963 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage avancé FEI Nova NOF 600 est conçu pour fournir aux utilisateurs des données de recherche précises sur les échantillons nanométriques. Il offre un large éventail d'outils et de capacités pour aider à l'imagerie haute résolution et la caractérisation d'une gamme de matériaux. L'équipement est entièrement automatisé et facile à utiliser, ce qui en fait un excellent choix pour des tâches de recherche avancées. Nova NOF SEM 600 utilise une source d'électrons monochromatiques pour fournir aux utilisateurs une imagerie et une caractérisation à haute résolution. Il supporte une large gamme de tensions d'accélération, de 0,1 à 12 kV, et de multiples modes d'imagerie, y compris les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et les rayons X caractéristiques. Il prend en charge des signaux de rafale d'impulsions pour l'imagerie automatisée avec détection avancée de fonctionnalités, et des seqeunces d'image « electronomap » pour la cartographie de zone entièrement automatisée. Le système offre également plusieurs outils et techniques pour la recherche avancée. Il inclut un stade de promotion peltier-refroidit avec une gamme de température de-25 à 100 degrés Celsius, une lentille objective immergée pour jusqu'au grossissement ~300X, un stade d'inclinaison automatisé, un détecteur de défaut automatisé, une unité de caractérisation de promotion dans le vide pour la cartographie élémentaire et la nano-tomographie. De plus, la machine supporte l'imagerie automatisée corrigée de la dérive et l'analyse contextuelle intellignt avec des fonctionnalités automatisées « électron-eye ». Pour une manipulation précise de l'échantillon, le FEI Nova SEM 600 dispose d'un étage d'échantillonnage motorisé à 4 axes, qui fournit une précision de sous-microns dans la détection, le positionnement et le mouvement des caractéristiques. L'outil comprend également l'aspirateur automatisé et le contrôle de pression, une gamme d'accessoires sous vide et un logiciel intégré pour l'automatisation de bout en bout. Avec son ensemble complet d'outils et ses capacités d'imagerie et de caractérisation très avancées, Nova Nand SEM 600 offre aux utilisateurs la solution ultime pour la recherche à l'échelle nanométrique. Il permet aux utilisateurs d'explorer le nanoworld avec une précision et une précision extrêmes, leur permettant d'acquérir une compréhension inégalée de leurs échantillons.