Occasion FEI Nova NanoSEM 600 #9300046 à vendre en France

ID: 9300046
Scanning Electron Microscope (SEM) FEG Source High and low vac mode Deceleration mode Plate for flexibility: 150 x 150 mm Metal deposition GIS.
FEI Nova NOF SEM 600 est un puissant microscope électronique à balayage produit par FEI, un fabricant de microscopes haut de gamme. Il offre une gamme complète de fonctionnalités et de capacités avancées, ce qui en fait un excellent choix pour les chercheurs qui cherchent à créer des images détaillées et précises. Au cœur, Nova Nand SEM 600 possède un canon à émission de champ (FEG), une source d'électrons qui émet un faisceau à fort courant à faible tension d'accélération. Cette fonctionnalité permet des images crisp avec une plus grande résolution que les autres SEM. Il possède également une grande lentille diélectrique qui permet des objectifs de grande ouverture. Cette combinaison, avec les techniques d'éclairage hors axe, conduit à de grandes images 3D de grands objets. L'ENSEM 600 permet une gamme impressionnante de fonctionnalités. Il est équipé de l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB) la plus récente, qui permet une imagerie de haute qualité des matériaux de faible densité. Il est équipé de contrôle d'inclinaison et d'imagerie à pression variable, permettant de scanner les échantillons sans avoir besoin de revêtement. La machine dispose également de 4 détecteurs de lignes analytiques qui permettent une analyse élémentaire. Les systèmes avancés d'affichage et de contrôle sont capables d'imagerie basse kV, d'imagerie à pression variable et de techniques d'interaction multiple électronique (EMI), permettant de grands niveaux de contraste et de résolution. La machine comprend également un étage automatisé, permettant une plus grande commodité et efficacité. Dans l'ensemble, le FEI Nova SEM 600 est un SEM puissant avec une large gamme de fonctionnalités et de capacités. C'est un excellent choix pour les chercheurs à la recherche d'images claires avec de grands niveaux de résolution. Ses capacités avancées en font un excellent choix pour l'imagerie d'objets de toutes tailles, types et détails.
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