Occasion FEI Nova NanoSEM 600 #9379575 à vendre en France
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ID: 9379575
Style Vintage: 2006
Focused Ion Beam (FIB) System
Single beam
With rotation capability
PIC
Pump
No Chiller
No EDS
2006 vintage.
Le microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) FEI Nova Nfor SEM 600 permet de scanner la surface des échantillons avec une résolution sous-nanométrique. Il utilise une source d'électrons d'émission de champ (FEG) pour délivrer des images à très haute résolution avec un niveau de précision sous-angstrom. La source FEG permet d'augmenter la sensibilité du Nand SEM 600 en fournissant des tensions d'accélération élevées, ce qui améliore également la résolution spatiale. Le NdouanSEM 600 dispose également d'une nouvelle configuration de faisceau double qui intègre les capacités SEM et Focus Ion Beam (FIB). Cela permet à l'instrument de combiner l'imagerie optique et l'imagerie de surface en un seul système, ce qui en fait le seul double faisceau de sa catégorie. Le courant du faisceau pour la composante SEM est évalué jusqu'à 10nA à 0,3 kV, ce qui permet une variété d'options d'imagerie. Le Nof SEM 600 dispose d'une navigation sans escalier automatisée qui facilite l'utilisation en permettant à l'utilisateur de naviguer rapidement dans la zone d'intérêt - en envoyant des images d'endroits adjacents dans le champ de vision au fur et à mesure. Cela permet à l'utilisateur d'établir un aperçu général de l'échantillon avant de zoomer pour se concentrer avec précision sur les détails. L'instrument dispose d'un système de manipulation d'échantillons avec deux étages mobiles, permettant l'imagerie d'échantillons avec une grande variété de tailles. La rotation de l'échantillon se produit également à travers les étages, fournissant une imagerie à angle multiple avec une résolution aussi élevée que 0,6nm. NanoSEM 600 incorpore aussi une énergie le Spectromètre de Rayons X de Dispersive (les RÉDACTEURS) - le fait de fournir à l'utilisateur avec la cartographie élémentaire et l'analyse chimique. Cela aide à affiner les données élémentaires à grande échelle, et fournit des informations sur la topographie et la morphologie des échantillons. L'instrument est hébergé dans un ordinateur de console, connecté à n'importe quelle souris USB ou clavier. Le système FeixRay plasma aide à la distribution de gaz peut aider à obtenir une résolution et une précision d'image plus élevées. Toutes ces fonctionnalités se combinent pour créer un SEM puissant et fiable qui offre une résolution et une précision de pointe dans l'industrie.
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