Occasion FEI Quanta 250 FEG #293686361 à vendre en France

ID: 293686361
Scanning Electron Microscope (SEM) EDX Secondary electron image resolution: High vacuum mode: 1.0 mm @ 30 kV, 3.0 mm @ 1 kV Backscattered electron image resolution: High vacuum mode: 2.5 mm @ 30 kV Low and ambient vacuum mode: 1.4 nm @ 30 kV Beam current range: 0.8 pa ~ 100 na (15 kV) 0.8 pa ~ 100 na (2 kV) 0.8 pa ~ 100 na (1 kV) Acceleration voltage: 200 V~30 kV.
FEI Quanta 250 FEG est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et les capacités analytiques avancées dans divers domaines tels que la science des matériaux, les sciences de la vie, la nanotechnologie et les semi-conducteurs. Instrument phare de la série FEI Quanta, Quanta 250 FEG intègre des technologies innovantes pour offrir des performances exceptionnelles et une polyvalence pour un large éventail d'applications de recherche. L'une des caractéristiques clés du FEI Quanta 250 FEG est sa source d'électrons à canon à émission de champ (FEG), qui fournit un faisceau d'électrons très stable avec une grande luminosité et cohérence. Cela permet au microscope d'obtenir une résolution d'imagerie supérieure jusqu'à des niveaux de sous-nanomètre, permettant aux chercheurs de visualiser des détails et des structures fines avec une clarté inégalée. La source FEG offre également un meilleur contrôle du faisceau et la stabilité du courant du faisceau, assurant des résultats d'imagerie cohérents et reproductibles. Quanta 250 FEG est équipé de plusieurs options de détection, y compris des détecteurs d'électrons secondaires (SE), des détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) et des détecteurs de spectroscopie de rayons X (EDS) dispersive d'énergie. Ces détecteurs permettent d'effectuer un large éventail de techniques d'imagerie et d'analyse sur le même instrument, faisant de FEI Quanta 250 FEG un outil polyvalent pour caractériser une variété d'échantillons aux propriétés et compositions différentes. En termes de capacités d'imagerie, Quanta 250 FEG supporte des modes de fonctionnement à vide élevé et à vide faible, permettant l'imagerie d'une large gamme d'échantillons, y compris des matériaux non conducteurs qui peuvent être sujets à des effets de charge. L'instrument dispose également de modes d'imagerie avancés tels que le mode à pression variable, le mode SEM environnemental (ESEM) et le mode à vide faible, qui permettent l'imagerie d'échantillons avec des niveaux d'hydratation variables, ainsi que l'imagerie d'échantillons dans leur état naturel sans avoir besoin d'une préparation d'échantillons approfondie. Pour les capacités analytiques avancées, le FEI Quanta 250 FEG est équipé d'un système EDS qui permet l'analyse élémentaire de l'échantillon en détectant les rayons X caractéristiques émis lors des interactions électrons-échantillons. Cela permet aux chercheurs d'identifier et de quantifier la composition élémentaire de l'échantillon, de cartographier la distribution des éléments à l'intérieur de l'échantillon et d'effectuer des balayages de raies élémentaires à haute résolution spatiale. En outre, Quanta 250 FEG offre des capacités logicielles avancées pour l'acquisition, le traitement et l'analyse de données, permettant aux chercheurs d'extraire des informations précieuses de leurs images et spectres. Le microscope est compatible avec divers logiciels d'imagerie et d'analyse, y compris la suite logicielle exclusive FEI, qui offre des interfaces utilisateur intuitives, des outils d'automatisation et des algorithmes de traitement d'image pour améliorer la productivité et l'interprétation des données. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage FEI Quanta 250 FEG est un instrument de pointe qui combine des capacités d'imagerie haute résolution avec des techniques d'analyse avancées pour fournir aux chercheurs un outil puissant pour étudier la microstructure, la composition et les propriétés d'un large éventail de matériaux et d'échantillons. Avec ses performances supérieures, sa polyvalence et son interface conviviale, Quanta 250 FEG est un outil indispensable pour la recherche scientifique et la découverte dans différents domaines.
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