Occasion FEI Quanta Inspect #9172399 à vendre en France

FEI Quanta Inspect est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour la recherche avancée et les expériences analytiques en laboratoire. Il est idéal pour l'inspection et l'analyse de divers matériaux, y compris les semi-conducteurs, les composites, les métaux, la céramique, les polymères, les matériaux magnétiques et les couches minces. Quanta Inspect SEM utilise une colonne électronique de pointe, qui donne à l'instrument des performances et une résolution supérieures. Il comprend les dernières capacités d'imagerie et de traitement numérique du signal. Il dispose d'une source d'électrons avancée de type Liebscher (LTG) avec des sondes pour l'imagerie haute résolution et l'imagerie électronique rétrodiffusée. En outre, il dispose d'une plateforme d'imagerie et d'analyse intelligente, qui comprend une interface graphique intuitive, des niveaux automatisés et des distances de mesure, des capacités de piquage d'images, ainsi qu'un large éventail d'outils pour mesurer les structures critiques. FEI Quanta Inspect est capable de fournir des images de haute qualité avec une résolution latérale de 1,4 nm et une plage dynamique de 14 bits. Il dispose également d'un microscope électronique à balayage à pression variable (VP-SEM) qui assure une imagerie supérieure dans une gamme de conditions de travail. Le VP-SEM modifie la vitesse de l'accélérateur haute tension pour maintenir les conditions optimales de vide pour l'imagerie et l'analyse. Sur l'étape de l'échantillonnage, Quanta Inspect offre un certain nombre d'options pour les applications, dont un système de positionnement motorisé, un étage d'inclinaison pour la visualisation d'objets dynamiques, un système d'auto-focus, des équipements de navigation d'échantillons et une plage de vitesse de balayage programmable. FEI Quanta Inspect emploie une variété de détecteurs pour donner aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour répondre aux exigences analytiques les plus difficiles. Son détecteur multicloud peut être utilisé pour l'imagerie par faisceau à basse et haute énergie. Le détecteur de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) donne aux chercheurs la clarté dont ils ont besoin pour étudier les caractéristiques nanométriques d'une variété de matériaux. Il peut également détecter et analyser la composition élémentaire dans des échantillons minces et massifs. Quanta Inspect est une solution SEM tout-en-un qui fournit des fonctionnalités avancées, telles que la cartographie automatisée, les mesures de tableaux, l'acquisition automatisée de données et le reporting. C'est un outil idéal pour un large éventail d'applications industrielles et de recherche.