Occasion FEI Strata FIB 205 #9233566 à vendre en France

FEI Strata FIB 205 est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin de capacités d'imagerie et de cartographie avancées. L'équipement offre une multitude de fonctionnalités utiles pour assurer l'imagerie et l'analyse la plus haute résolution possible. La Strata FIB 205 est basée sur un Field Emission Gun (FEG) et sur un étage de spécimen Quattro conçu sur mesure qui sont spécifiquement conçus pour les flux de travail de l'appareil. L'optique avancée, les nanostages, l'éclairage supérieur des échantillons et une multitude d'accessoires font du système un outil puissant pour l'imagerie et la collecte de données. L'étage Quattro est capable de transporter un échantillon jusqu'à 9mm d'épaisseur et est particulièrement bien adapté pour l'imagerie de la nanostructure 3D. FEI Strata FIB 205 dispose d'une haute luminosité FEG qui fournit une résolution exceptionnelle et une densité de courant élevée du faisceau, ce qui améliore la vitesse d'imagerie. Cette unité dispose également d'un grand champ de vision de 6,3 pouces qui est capable d'imiter de grandes tailles d'échantillons avec une profondeur de focalisation améliorée. Strata FIB 205 comprend également une variété de porte-échantillons et d'étages, comme l'étage de cartographie corrélative, qui est capable de corréler automatiquement les données des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Le porte-échantillon SuperDry améliore la qualité de l'imagerie pour les échantillons hydrophiles, tandis que le porte-échantillon pour l'imagerie des surfaces structurées est conçu en temps réel. FEI Strata FIB 205 est IntelliTune activé pour la détection automatisée selon la tâche, ainsi que des logiciels de cartographie automatisée faciles à utiliser et le traitement automatisé des images pour améliorer les résultats. La machine comprend également des outils avancés d'acquisition d'images capables de capturer des données ultra-haute résolution ou d'effectuer des mesures de surface à plus grande échelle. Strata FIB 205 fournit des performances de pointe en microscopie électronique à balayage pour des applications de recherche et développement. Avec des capacités d'imagerie et de cartographie avancées, une excellente préparation des échantillons et des outils automatisés, FEI Strata FIB 205 est l'un des systèmes de microscopie électronique à balayage les plus puissants disponibles.