Occasion FEI / TECNAI F20 X-TWIN #9151726 à vendre en France

FEI/TECNAI F20 X-TWIN est un microscope électronique à balayage utilisé pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Il a un facteur de résolution latérale de 0,25 nm (nanomètre) et de 0,065 nm (nanomètre) de profondeur. Ce microscope électronique sophistiqué combine les technologies SCHOTTKY Field Emission (FE) et de transfert d'émissions sur le terrain (FET) pour améliorer la résolution et le contraste d'image. FEI F20 X-TWIN consiste en une colonne de microscope contenant une paire d'alimentations à haute tension et une aile de champ magnétique pour supporter l'optique électronique. Il est également équipé d'un étage d'échantillonnage spécialement conçu pour déplacer la surface de l'échantillon dans toutes les directions et à des vitesses variables pour une imagerie très précise et précise. TECNAI F20 X-TWIN offre des capacités d'imagerie avancées telles que les rayons X et la tomographie électronique, en plus des applications SEM classiques. Il permet également aux utilisateurs d'imaginer des matériaux et des spécimens non conducteurs qui, autrement, ne pourraient pas être examinés dans le SEM à l'aide de la technologie FET. Il dispose d'un détecteur d'électrons CCD haute définition et d'un système intégré de stabilisation du vide pour réduire efficacement les artefacts de charge. Un aspect important de ce microscope électronique est son système de contrôle au microscope, qui fournit un environnement convivial et des capacités d'imagerie complètes pour de multiples applications. Il prévoit des accessoires supplémentaires pour des analyses plus avancées telles que la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), le filtrage d'énergie (EFS) et l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI). En outre, son détecteur de dérive de silicium refroidi à l'azote liquide (SDD) offre une large gamme de capacités d'analyse élémentaire. Cette caractéristique est particulièrement utile pour des matériaux tels que ceux utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs qui nécessitent des mesures exactes des rapports et des quantités d'éléments. Dans l'ensemble, F20 X-TWIN est un microscope électronique à balayage hautement spécialisé utilisé pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Il offre une résolution et un contraste d'image excellents grâce à ses technologies d'émission et de transfert d'émissions de terrain SCHOTTKY. Son système de contrôle microscopique de la technologie de pointe permet un fonctionnement facile et offre de puissantes capacités d'imagerie ainsi qu'une variété d'accessoires pour des exigences d'analyse plus avancées. FEI/TECNAI F20 X-TWIN est ainsi l'un des meilleurs de sa catégorie pour les matériaux avancés et l'application de semi-conducteurs.