Occasion FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN #293620685 à vendre en France

ID: 293620685
Style Vintage: 2006
Transmission Electron Microscope (TEM). EDAX HAADF Detector 2006 vintage.
FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Ce puissant appareil est conçu pour générer des images à haute résolution de spécimens microscopiques dans une incroyable variété d'applications, telles que la recherche biologique, l'inspection industrielle et la nanofabrication. Le TECNAI G2 offre une résolution allant jusqu'à 1,7nm, parmi les meilleures de sa catégorie, permettant une analyse précise des caractéristiques minuscules. Sa 20kV tension d'accélération assure une imagerie de haute qualité et de faibles dommages aux échantillons, tandis que ses optiques électroniques brevetées X-Twin offrent un large champ de vision et un niveau élevé de contraste d'image. De plus, sa synchronisation double axe permet un positionnement rapide et précis de l'échantillon par rapport au faisceau. Le TECNAI G2 est également équipé d'une variété de fonctionnalités conviviales, dont un logiciel facile à naviguer, une automatisation précise pour la manipulation des spécimens et un fonctionnement intuitif pour l'imagerie de routine et des techniques de recherche sophistiquées. Sa large gamme d'accessoires améliore encore la polyvalence du système, permettant de multiples porte-échantillons pour les grands échantillons et les chambres cryogéniques et environnementales qui permettent l'imagerie des échantillons dans différentes conditions de pression et de température. TECNAI G2 F20 X-TWIN est une solution polyvalente, compacte et fiable pour l'espace de travail. Alliant performance, facilité d'utilisation, ergonomie et sécurité, ce microscope est un choix idéal pour la recherche microscopique avancée et les applications industrielles. Le TECNAI G2 est parfait pour tout projet de recherche ou d'inspection grâce à son optique exceptionnelle, sa haute résolution et ses dommages aux échantillons.
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