Occasion FEI Tecnai G2 F20 #293618175 à vendre en France

FEI Tecnai G2 F20 est un microscope électronique à balayage polyvalent (SEM) conçu pour une utilisation dans une variété d'applications de recherche et industrielles. Il utilise des faisceaux focalisés d'électrons pour obtenir une imagerie haute résolution des surfaces ou des sections transversales de matériaux en vrac. Ce SEM est équipé d'une source d'électrons à émission de champ froid (FEG) qui offre une excellente résolution d'image et des performances supérieures dans les applications difficiles. Il est capable d'imiter des échantillons jusqu'à une surface maximale de 6,5 cm x 6,5 cm avec un grossissement maximal de 300,000X. En outre, Tecnai G2 F20 dispose d'un système intégré d'échantillonnage par injection de gaz (SIG), permettant à l'utilisateur d'effectuer des opérations SEM à chambre gazeuse ou sous vide avec précision. Les caractéristiques de manipulation des échantillons du FEI Tecnai G2 F20 permettent un chargement automatisé et sans contact des échantillons et un contrôle optimisé des vibrations. Il dispose d'une grande chambre d'échantillonnage et peut facilement être combiné avec des porte-échantillons supplémentaires pour l'analyse personnalisée. La chambre fermée élimine la contamination ambiante et permet également la collecte d'électrons secondaires pour la spectroscopie de surface. En termes de capacités d'imagerie et d'analyse, Tecnai G2 F20 peut collecter des images d'électrons rétrodiffusés à haute résolution (ESB) et SE2 (électrons secondaires). Il a une vitesse de balayage variable, des tailles d'image, et une plage de courant pour répondre à une variété d'exigences d'échantillon. En utilisant plusieurs techniques de contraste prédéfinies telles que l'ESB à pression variable, l'imagerie monochromatique et l'amélioration des bords, l'utilisateur peut améliorer le contraste et la visibilité dans différents types d'images. FEI Tecnai G2 F20 dispose d'une large gamme de capacités analytiques. Son système EDS est alimenté par un détecteur X-MAX 80 d'Oxford Instruments et s'intègre facilement dans l'environnement SEM. Il permet une analyse élémentaire avec une excellente vitesse, sensibilité et résolution, et l'utilisateur peut effectuer une corrélation d'image pour localiser les caractéristiques d'intérêt. Tecnai G2 F20 est un SEM avancé idéal pour la recherche et les applications industrielles qui exigent des performances d'imagerie et d'analyse supérieures. Il est très polyvalent et peut traiter un large éventail d'échantillons, permettant une analyse, une visualisation et une caractérisation détaillées.