Occasion FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9028804 à vendre en France

Un microscope électronique FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une variété d'échantillons. Il intègre un grand champ de vision et de focalisation dynamique avec un système à double chambre conçu pour garder la préparation de l'échantillon et le fonctionnement de l'instrument séparés. Ce microscope avancé comporte également un détecteur de spectroscopie des rayons X (EDS) dispersif en énergie qui fournit une analyse élémentaire de l'échantillon. FEI G2 F30 S-Twin SEM dispose d'un canon à électrons délivrant une longueur d'onde de 0,1nm pour une résolution supérieure et une imagerie à fort grossissement. Il est conçu pour fonctionner à des niveaux de courant et de tension plus élevés pour un large éventail d'applications, y compris l'imagerie de spécimens biologiques, la microstructure de matériaux de mesure et la rugosité de surface, la pathologie cellulaire et la recherche sur la livraison de médicaments. Cet instrument offre également une excellente stabilité et résolution grâce à sa technologie Focus Ion-Beam (FIB). TECNAI G2 F30 S-Twin SEM est conçu pour fournir des performances supérieures en raison de son architecture double chambre, étage motorisé 4 axes, et des fonctionnalités logicielles avancées. Le SEM utilise une combinaison d'électronique de pointe et d'optique pour l'imagerie haute résolution avec un contraste et une profondeur détaillés. Il est également équipé d'une lentille sciatique pour permettre l'observation d'échantillons à partir des surfaces supérieure et inférieure, ainsi que d'un mode à vide pour l'imagerie de matériaux d'échantillons délicats. En plus des tâches d'imagerie standard, G2 F30 S-Twin est capable d'une gamme de capacités analytiques, y compris la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) détecteur, l'analyse automatisée des particules (APA), l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), et Scanning Ion microbe (SIM). De plus, son système d'autofocus à courant de faisceau et son optimisation automatisée permettent une caractérisation détaillée de la chimie et de la structure des échantillons. Dans l'ensemble, le FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin SEM est un outil puissant et polyvalent conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une grande variété de spécimens. Il offre une combinaison inégalée de fonctionnalités et de capacités, y compris une résolution supérieure, une conception électromécanique avancée, un haut niveau d'automatisation, et une vaste gamme d'outils d'analyse.