Occasion FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9225984 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 9225984
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) OS: Windows Accessories: Cameras EDX Image filters (2) Holders: single tilt, double tilt Options included: GATAN MSC794 1K CCD (not installed) EDAX detector HAADF STEM detector EELS is not installed 2003 vintage.
Le microscope électronique FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin à balayage (SEM) est un puissant équipement d'imagerie qui fournit des capacités d'imagerie ultra haute résolution dans divers domaines, y compris l'industrie, la médecine et la recherche scientifique. Cet outil offre une combinaison puissante de fonctionnalités non trouvées dans d'autres systèmes d'imagerie pour créer une expérience d'imagerie unique. FEI G2 F30 S-Twin offre à l'utilisateur un faisceau d'électrons à balayage personnalisable, une haute tension d'accélération de 30 kV et un courant de faisceau à balayage pouvant atteindre 2 nA. Ce faisceau d'électrons fournit un champ de vision puissant et de haute résolution et peut être utilisé pour créer des cartes élémentaires de haute qualité, des images et l'analyse de matériaux de spécimen. Un porte-échantillon motorisé offre un chargement facile et un positionnement précis, avec une plage de mouvement de 100 µm et une taille maximale de 100 mm. TECNAI G2 F30 S-Twin est également équipé d'une variété d'outils d'analyse pour analyser la composition élémentaire des échantillons, y compris la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et l'imagerie par filtrage d'énergie (EFI). L'EDS intégrée permet à l'utilisateur d'identifier la composition élémentaire d'un échantillon, et l'EFI haute résolution permet une cartographie chimique détaillée de l'échantillon. De plus, la technologie G2 Platform brevetée par FEI permet l'acquisition et l'analyse automatisées sur des spécimens montés sur une plate-forme et des spécimens montés sur une plate-forme. Ce puissant équipement automatisé permet aux utilisateurs d'acquérir, de traiter et d'analyser rapidement des échantillons sans passer de temps à configurer le microscope. Ce système est également conçu avec une gamme de caractéristiques de sécurité comprenant un verrouillage de porte, une unité d'accès à clé et un mode de protection contre les chocs qui assure le plus haut niveau de sécurité possible pour l'instrument. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage G2 F30 S-Twin fournit une puissante suite de fonctions d'imagerie, d'analyse et d'automatisation qui en font un instrument idéal pour un large éventail d'applications. Sa technologie de plate-forme exclusive et sa machine automatisée d'acquisition/analyse facilitent l'acquisition, le traitement, l'analyse et le stockage de données pour une variété d'échantillons. Ses capacités d'imagerie haute résolution et ses outils d'analyse intégrés offrent un mélange parfait de capacités pour toute tâche d'imagerie.
Il n'y a pas encore de critiques