Occasion FEI Tecnai G2 F30 #9199627 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage FEI Tecnai G2 F30 est un puissant instrument à haute résolution pour l'imagerie de particules et de structures nano-dimensionnées, capable de produire des images avec une résolution allant jusqu'à 30 nm. Cet outil est optimisé pour l'imagerie de matériaux inorganiques et nanométriques, tels que les alliages métalliques, les semi-conducteurs et la céramique. Tecnai G2 F30 est équipé d'une source d'électrons à émission de champ (FEG), ce qui améliore la stabilité, la qualité et la résolution des images. Cette source d'électrons améliore également le débit pour une analyse plus rapide des échantillons, conduisant à un degré plus élevé de précision et de cohérence dans les résultats. Le microscope électronique à balayage FEI Tecnai G2 F30 intègre une colonne d'électrons brillante et à haute résolution idéale pour les échantillons sensibles à CONTANGO, un travail d'analyse efficace et une imagerie 3D. L'efficacité opérationnelle du microscope est encore améliorée grâce à la technologie Smart APE, qui optimise automatiquement l'énergie du faisceau d'électrons et la luminosité de l'échantillon à imager. En plus des capacités d'imagerie, Tecnai G2 F30 dispose également de méthodes analytiques avancées telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), la spectroscopie à dispersion par microscopie électronique à balayage (SEM-EDS) et la cartographie élémentaire. Ces méthodes d'analyse offrent un examen plus précis et plus détaillé des spécimens, ce qui permet de mieux comprendre leur composition, leur structure et leurs propriétés. Le système comprend une variété d'accessoires, tels qu'un étage automatisé, des porte-échantillons et des supports, des ouvertures pour la mesure précise de la lumière, des techniques d'éclairage pour l'alignement des échantillons, et une variété de détecteurs Everhart-Thornley pour la détection des ions à basse et haute énergie. Le microscope électronique à balayage FEI Tecnai G2 F30 est idéal pour les applications de recherche, industrielles et éducatives. Son ingénierie de précision, son électronique sophistiquée et ses capacités d'imagerie haute résolution en font un outil inestimable pour tout utilisateur cherchant des informations détaillées sur une gamme de matériaux, des alliages métalliques aux semi-conducteurs.