Occasion FEI TEMLink 14771-003 #9298772 à vendre en France

FEI TEMLink 14771-003 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie, d'analyse et d'automatisation à haute résolution. Il s'agit d'une solution rentable pour les microscopes électroniques de qualité recherche avec une large gamme de caractéristiques et des performances avancées. TEMLink 14771-003 est équipé d'une source d'émission de champ (FES) dans la lentille qui a un cycle de service élevé et une luminosité maximale de 100 nanoAmps/cm2. Cette technologie permet une très haute résolution dans l'imagerie et l'analyse automatisée. En outre, FEI TEMLink 14771-003 est équipé d'un équipement intégré d'analyse de surface (SAXFPE) pour l'analyse élémentaire et la détection chimique. Ce système est équipé d'un détecteur AE, d'un détecteur EDX, d'une unité d'imagerie hyperspectrale et d'un détecteur STEM pour garantir une précision maximale des données. La conception de TEMLink 14771-003 inclut également ses caractéristiques de haute résolution. Avec une longue distance de travail (35 microns) et une ouverture numérique élevée (1.2), FEI TEMLink 14771-003 peut représenter et analyser des échantillons à des résolutions allant jusqu'à 4 nm. TEMLink 14771-003 dispose également du contrôle logiciel de ses composants, permettant le fonctionnement à distance et l'automatisation de ses systèmes. FEI TEMLink 14771-003 est également livré avec une variété de fonctionnalités de traitement d'image ainsi que des programmes automatisés d'analyse de machine. Ces programmes comprennent un outil d'analyse statistique et un outil de classification des objets basé sur l'intelligence artificielle (IA). L'automatisation des paramètres de l'outil peut être utilisée pour définir des paramètres d'imagerie et des étalonnages prédéterminés pour des mesures fiables. Enfin, TEMLink 14771-003 comprend également des options de contrôle environnemental pour maintenir la stabilité et la sécurité du microscope pendant les expériences à long terme et à court terme. Cela comprend des caractéristiques telles qu'une atmosphère contrôlée et une chambre d'humidité, un contrôle de la pression et des vibrations, et un actif sous vide. Dans l'ensemble, FEI TEMLink 14771-003 est un microscope électronique à balayage haute performance adapté à l'imagerie et à l'analyse de qualité de recherche. Il possède une variété de caractéristiques qui en font un outil approprié pour l'imagerie haute résolution, l'analyse de surface, l'automatisation et le contrôle environnemental. Ses fonctions de source d'émission de champ (FES) et d'automatisation logicielle permettent une imagerie haute résolution et une analyse automatisée dans une solution rentable.