Occasion FEI TEMLink 150 #293604494 à vendre en France

FEI TEMLink 150 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la caractérisation non destructive des échantillons en sciences des matériaux. Il est capable d'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI) et d'imagerie électronique secondaire (SEI) à haute résolution et est largement utilisé dans l'analyse de contamination de surface à haute résolution. TEMLink 150 fonctionne par l'utilisation d'une source thermionique qui permet au microscope de réaliser diverses techniques d'imagerie. Il est équipé d'un pistolet monomode contenant une source d'électrons (filament de tungstène) qui fonctionne à température ambiante. Cette source d'électrons est conçue pour aider à réduire les exigences de maintenance et fournir à l'utilisateur d'excellentes performances. Le microscope offre un mécanisme auto-zéro pour des résultats rapides, précis et reproductibles. FEI TEMLink 150 est un instrument polyvalent qui peut être utilisé pour caractériser une variété de matériaux, tels que les métaux, les semi-conducteurs et la céramique. Sa flexibilité le rend également adapté à l'imagerie de matériaux organiques, tels que polymères et échantillons biologiques. TEMLink 150 utilise un détecteur d'imagerie haute résolution offrant aux utilisateurs une large gamme d'options. L'imagerie par contraste de phase et la spectroscopie par rayons X (EDS) dispersive d'énergie font partie des options intégrées. Grâce à un processeur d'image numérique de quantification optionnel, les utilisateurs peuvent également obtenir des informations quantitatives sur des caractéristiques de spécimen, telles que la rugosité ou d'autres styles de surface. FEI TEMLink 150 offre d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse à une vitesse de balayage rapide. Avec un angle d'inclinaison réglable, les utilisateurs peuvent facilement explorer les caractéristiques des spécimens sous plusieurs angles. L'échantillon peut également être tourné autour de son axe vertical pour l'imagerie complexe. De plus, la fonction d'alignement automatique du microscope permet aux utilisateurs de mesurer, d'image et d'analyser rapidement des échantillons. TEMLink 150 dispose également d'un design moderne, avec une interface graphique couleur inclinable et des outils graphiques faciles à utiliser. Et son mode auto-équilibre élimine le besoin de réglage manuel des réglages du microscope, permettant aux utilisateurs d'accéder rapidement à leurs données et analyses souhaitées. FEI TEMLink 150, avec ses excellentes performances et ses caractéristiques avantageuses, est un choix idéal pour la caractérisation des matériaux non destructifs. C'est un outil inestimable pour les chercheurs, les ingénieurs et les scientifiques.