Occasion FEI TEMLink-KY02 #9298727 à vendre en France

FEI TEMLink-KY02 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) avec des capacités exceptionnelles. TEMLink-KY02 est un outil idéal pour caractériser les nanomatériaux à résolution sous-micrométrique et nanométrique. De plus, FEI TEMLink-KY02 peut produire des images 3D de spécimens à l'aide de son équipement automatisé de contrôle d'inclinaison/décalage. TEMLink-KY02 dispose d'une colonne d'électrons à balayage robuste avec un canon d'émission de champ à haute résolution qui peut fournir une tension de faisceau d'électrons allant jusqu'à 30kV. Son étage d'échantillons est capable de recevoir de grandes tailles d'échantillons tout en fournissant un positionnement reproductible et précis ainsi qu'un balayage automatisé. FEI TEMLink-KY02 utilise également un détecteur d'électrons secondaire et un détecteur d'électrons rétrodiffuseur pour atteindre des images de contraste élevé de l'échantillon. Ce détail d'image est encore amélioré par le système correcteur vectoriel de TEMLink-KY02, qui aide à créer des images précises en minimisant les artefacts systématiques et aléatoires dans les images enregistrées. Cette qualité d'image peut encore être augmentée en utilisant les fonctions de post-traitement embarquées telles que l'imagerie séquentielle et l'empilement d'images. FEI TEMLink-KY02 offre une large gamme de fonctionnalités qui en font un SEM exceptionnel pour presque n'importe quel environnement de laboratoire. Ces caractéristiques comprennent une unité de stockage d'images luminophores qui produit des images numériques de haute qualité ainsi qu'une machine avancée d'imagerie de traces de particules pour suivre le mouvement des nanoparticules. Il comprend également un filtre d'énergie pour analyser la composition chimique des échantillons et un détecteur secondaire de particules chargées pour observer la structure atomique. Une autre caractéristique impressionnante de TEMLink-KY02 est son outil de contrôle environnemental. Cet atout permet aux utilisateurs de surveiller et d'ajuster la température, l'humidité et les vibrations, permettant une utilisation SEM exceptionnellement stable et une meilleure fidélité à l'imagerie. En conclusion, FEI TEMLink-KY02 est un microscope électronique à balayage de niveau avancé qui est bien adapté pour caractériser les nanomatériaux, produire des images 3D, ainsi que de nombreux autres domaines d'application. Sa conception robuste, sa capacité d'imagerie haute résolution et ses contrôles automatisés font de ce SEM un choix exceptionnel pour tout laboratoire.