Occasion FEI Titan CT #293595104 à vendre en France

FEI Titan CT est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de la structure de surface des matériaux solides. Il offre divers champs de vision pour l'analyse détaillée des échantillons à petite et grande échelle. Titan CT est équipé d'une source d'émission de champ froid (CFES), qui produit un courant de sonde électronique accru qui permet une meilleure résolution des caractéristiques sur l'échantillon. De plus, le CFES réduit la charge des particules habituellement associées aux SEM classiques. Grâce à sa capacité de traitement informatique améliorée, FEI Titan CT peut acquérir des données d'image multimodales à des vitesses sans précédent. Ceci permet une caractérisation microstructurale étendue des échantillons. Titan CT utilise une suite de détecteurs pour acquérir des signaux de l'échantillon. Les détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) peuvent détecter les électrons secondaires émis lorsque les électrons primaires frappent des atomes d'échantillons. Ceux-ci fournissent des détails topographiques sur les spécimens, avec une profondeur de focalisation faible et profonde. Les détecteurs d'électrons secondaires (SE) peuvent détecter les électrons émis lorsque les électrons primaires interagissent avec la surface de l'échantillon, fournissant plus de détails topographiques pour produire des images SEM plus contrastées. Il existe également des détecteurs parallèles disponibles pour analyser le spectre énergétique des électrons émis. Le Titan CT de FEI peut également inclure un détecteur de spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse chimique de l'échantillon. Cette technique permet de différencier les éléments en fonction de l'énergie libérée lorsqu'ils sont frappés par des électrons primaires. De plus, le détecteur EDS peut être utilisé pour mesurer les concentrations élémentaires des échantillons, ce qui permet de mieux comprendre leur chimie. Titan CT fournit également une résolution d'image corrigée de l'aberration puissante, générant des images très détaillées avec une résolution allant jusqu'à 1nm. Cela permet d'observer des caractéristiques fines, telles que les limites des grains, les vides et les fissures. Le Titan CT de la FEI peut également générer une corrélation numérique d'image (DIC) pour déterminer tous les paramètres pertinents nécessaires pour décrire la surface d'un échantillon. La technique DIC est utilisée pour obtenir à la fois l'information sur la forme et la souche de l'échantillon. Enfin, Titan CT dispose de processus de vide automatisés, qui réduisent la durée de vie de la source d'électrons et assurent un fonctionnement sans défaut pendant de longues périodes. FEI Titan CT offre également une variété de fonctions automatisées et conviviales pour la préparation des spécimens. En conclusion, Titan CT est un outil complexe et puissant pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons de différentes tailles. Son ergonomie avancée et ses caractéristiques en font un choix privilégié pour les professionnels de la microscopie.