Occasion FEI XL 30 #293731839 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage FEI XL 30 (SEM) est une unité avancée de haute puissance qui fournit des capacités d'imagerie, d'analyse et de caractérisation supérieures pour une variété de matériaux et d'échantillons. Le microscope utilise une combinaison de technologies de microsonde électronique, d'émission de champ et de faisceau électronique à balayage (SEB) pour produire des images et des données très fines avec une résolution et une précision extrêmement élevées. Il est équipé d'une variété de caractéristiques qui permettent un large éventail d'observations. XL 30 SEM utilise une source d'électrons haute tension, créant un faisceau mince qui est focalisé sur l'échantillon pour acquérir une image 3D avec des bords très propres. Le faisceau d'électrons est balayé à travers la surface de l'échantillon avec des paramètres exacts pour maximiser les détails d'imagerie. Une gamme de modes de fonctionnement sont disponibles pour le réglage précis des paramètres du faisceau d'électrons, permettant l'observation des caractéristiques de l'échelle nanométrique. Le SEM fournit également une variété de tensions d'accélération et de décélération pour optimiser les propriétés d'imagerie pour différents types d'échantillons. La fonction de spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) permet de cartographier les distributions d'éléments sur la surface de l'échantillon. Avec ces caractéristiques, les utilisateurs sont en mesure de compiler des graphiques et des diagrammes de haute qualité pour démontrer la composition chimique, les structures superficielles et internes, la contamination, et même les propriétés mécaniques. Le microscope fournit également un mouvement d'étage automatisé pour balayer de grandes surfaces afin de générer des images détaillées et des extraits de ces balayages pour une analyse plus approfondie. Il est également équipé d'une gamme de grossissements, jusqu'à 800 000 x, pour une meilleure clarté des détails. Avec un système de contraste variable, les utilisateurs peuvent ajuster le contraste à l'intérieur de l'image pour mettre en évidence des caractéristiques spécifiques et des inclusions. Dans l'ensemble, le FEI XL 30 SEM est un microscope électronique à balayage incroyablement puissant et efficace. C'est le choix idéal pour les chercheurs, les laboratoires et les universités qui exigent des capacités d'imagerie et d'analyse sophistiquées et précises sur une variété d'échantillons et de matériaux. Avec ses fonctionnalités avancées et des images de haute qualité, XL 30 SEM est l'instrument parfait pour un certain nombre de besoins de recherche.