Occasion FEI XL 30 #293820770 à vendre en France

FEI XL 30 est l'un des microscopes électroniques à balayage (SEM) les plus performants disponibles aujourd'hui. Il est conçu pour fournir des capacités d'imagerie supérieures pour un large éventail d'applications, permettant aux utilisateurs d'examiner et d'analyser de près les matériaux organiques et inorganiques. XL 30 dispose d'une conception à pression variable, qui permet de fonctionner à différents niveaux de vide, permettant aux utilisateurs d'éliminer les contaminants de l'échantillon, ce qui donne des images à plus haute résolution. Son détecteur d'ions directs (DID) fournit une analyse rapide et précise de la densité de charge des échantillons sans avoir à interrompre une séance d'imagerie. La lentille à base de galvanomètre avec des lentilles électrostatiques fournit une distance de travail jusqu'à 5 mm, permettant aux utilisateurs d'observer des échantillons à des grossissements plus élevés. Il est également équipé d'un processeur d'image numérique, permettant aux utilisateurs d'ajuster des paramètres d'imagerie tels que le contraste et la luminosité pour optimiser la qualité de l'image. FEI XL 30 est capable de fonctionner dans des modes de balayage à vide élevé et à vide faible, permettant aux utilisateurs d'imiter des échantillons fragiles qui seraient détruits dans un environnement à vide élevé. Il est également équipé d'une variété d'étages d'échantillons, y compris l'étage de mouvement d'échantillons XY, l'étage automatique standard et les étages d'échantillons rotatifs. L'étage de mouvement de l'échantillon XY permet une localisation précise de l'échantillon et permet l'imagerie série de grandes zones. L'étape automatique permet de traverser et d'approcher l'échantillon, ce qui permet l'acquisition et la navigation automatisées de l'image. Les étages d'échantillons rotatifs ont une capacité de maintien jusqu'à 5 échantillons et une résolution angulaire très précise. XL 30 comprend également une commande PC, qui fournit une interface utilisateur graphique conviviale. Cette interface permet aux utilisateurs de contrôler le microscope et d'accéder aux données recueillies. Dans l'ensemble, le FEI XL 30 est un microscope électronique à balayage avancé, offrant aux utilisateurs des capacités d'imagerie supérieures, de nombreux étages d'échantillons et des fonctions de contrôle PC. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'analyser, d'observer et d'imiter facilement un large éventail de spécimens et de matériaux.