Occasion HITACHI 4600 #9244798 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI 4600 (SEM) est un puissant outil d'imagerie et d'analyse qui permet d'explorer les caractéristiques topographiques et structurelles d'une grande variété de matériaux. L'instrument fournit des capacités détaillées d'imagerie et de microanalyse, telles que la cartographie élémentaire et l'analyse des lignes. Les capacités d'imagerie numérique haute résolution de 4600 SEM facilitent l'observation d'échantillons d'imagerie de presque n'importe quel matériau conducteur, y compris les métaux, les polymères et les composites. Il dispose d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) répondant à la demande d'images détaillées, même sur les structures sous microns. Le canon a une faible densité de courant qui aide à minimiser les dommages à l'échantillon tout en fournissant des résolutions inférieures à 1 nm. Le fonctionnement automatisé et le logiciel convivial de HITACHI 4600 SEM en font un instrument idéal pour une large gamme d'applications de caractérisation des matériaux. Grâce aux contrôles automatisés des stigmates, l'analyse des échantillons s'est grandement simplifiée au fil des opérations manuelles. Le système AutoScan contrôle la focalisation des échantillons, la stigmatisation, la luminosité, le contraste et d'autres facteurs sans avoir besoin d'une entrée manuelle. Le SEM comprend un système intégré de détection de rayons X EDS pour l'analyse élémentaire. Le système polyvalent de rayons X permet l'acquisition de données dans une grande variété de modes, y compris la cartographie à un seul élément, l'analyse EDX à spectre complet et les mesures de crêtes isolées. La spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) peut fournir de l'information qualitative et quantitative sur le matériel de l'échantillon. 4600 SEM est un outil important pour la recherche en sciences des matériaux, y compris la métallurgie, l'électronique et l'ingénierie environnementale. Elle joue également un rôle majeur dans l'industrie des semi-conducteurs en inspectant et en testant les circuits intégrés, ainsi que dans l'industrie automobile et aérospatiale pour l'analyse des défaillances et le contrôle de la qualité. Grâce à ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, HITACHI 4600 SEM permet aux chercheurs de mieux comprendre la structure et la composition des matériaux.