Occasion HITACHI 5500M #293752889 à vendre en France
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ID: 293752889
Atomic Force Microscope (AFM)
Tower
Detector
Pump
Chiller
External control rack
Specimen holder
Power supply
PC.
HITACHI 5500M est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui offre des capacités d'imagerie avancées pour les chercheurs et les scientifiques dans divers domaines d'étude. Cet instrument de pointe est conçu pour fournir l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et la caractérisation de surface d'un large éventail d'échantillons, ce qui en fait un outil essentiel pour la science des matériaux, les sciences de la vie, la géologie et la recherche sur les semi-conducteurs, entre autres. Au cœur de 5500M se trouve son système d'optique électronique, qui comprend une technologie avancée de canon à électrons, des lentilles électromagnétiques et des détecteurs qui permettent collectivement l'imagerie haute résolution avec une précision nanométrique. HITACHI 5500M est équipé d'un canon à électrons à émission de champ qui génère un faisceau d'électrons fortement focalisé avec un faible courant de faisceau, permettant une résolution d'imagerie exceptionnelle et une sensibilité de détection de signal. Le faisceau d'électrons est précisément contrôlé et balayé à travers la surface de l'échantillon, capturant des images détaillées des caractéristiques de l'échantillon avec des grossissements allant de quelques fois à plus de 1 000 000 de fois. 5500M dispose d'un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution qui peut capturer des informations de topographie et de composition de surface avec une résolution sous-nanométrique, ce qui le rend idéal pour étudier les nanostructures, les couches minces et les morphologies de surface complexes. En plus des capacités d'imagerie, HITACHI 5500M est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire des échantillons. Le système EDS permet aux chercheurs d'identifier et de quantifier la composition chimique des matériaux en détectant les rayons X caractéristiques émis lorsque le faisceau d'électrons interagit avec l'échantillon. Cette capacité est particulièrement utile pour analyser la distribution élémentaire au sein des échantillons, identifier les contaminants et étudier les variations de composition élémentaire des matériaux hétérogènes. 5500M dispose également d'une gamme de modes d'imagerie automatisés et personnalisables, tels que l'analyse de ligne, l'analyse de zone et la cartographie élémentaire, qui permettent aux utilisateurs de recueillir efficacement des données et de produire des images détaillées et des résultats d'analyse. L'interface logicielle intuitive de l'instrument permet un fonctionnement et un contrôle faciles des paramètres d'imagerie, ainsi que des fonctions avancées de traitement et d'analyse des données. En outre, HITACHI 5500M offre une variété d'accessoires et d'accessoires facultatifs pour améliorer ses capacités, y compris le mode de pression variable pour l'imagerie d'échantillons non conducteurs, la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) pour l'analyse cristallographique, et des systèmes de contrôle environnemental pour l'étude d'échantillons dans des conditions spécifiques de température et d'humidité. Dans l'ensemble, 5500M est un système SEM polyvalent et puissant qui combine l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et les modes d'imagerie avancés pour répondre aux divers besoins de recherche des scientifiques et des chercheurs. Avec ses performances exceptionnelles, son interface conviviale et ses fonctionnalités personnalisables, HITACHI 5500M est un outil indispensable pour un large éventail de disciplines scientifiques nécessitant des capacités d'imagerie et d'analyse précises.
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