Occasion HITACHI 6300 #9136773 à vendre en France

HITACHI 6300
ID: 9136773
Scanning electron microscope (SEM).
HITACHI 6300 est un microscope électronique à balayage à basse tension et haute résolution (SEM) utilisé pour la microscopie électronique et l'analyse des matériaux. Il est conçu pour fournir un débit élevé à vitesse accélérée, et un contraste élevé. L'équipement de base comprend un microscope électronique à balayage de type CS (SEM), un détecteur EDS (radiographie dispersive d'énergie), une colonne d'optique électronique avancée et un système d'image numérique. Le microscope utilise un effet de charge d'espace pour commander le faisceau à faible tension d'accélération et l'information est ensuite transférée numériquement à l'unité de commande. La machine pilotée par ordinateur minimise encore l'effet de charge d'espace en fournissant un réglage en temps réel des réglages de l'objectif et un gain pour optimiser la résolution de l'image. De plus, un outil sous vide est utilisé pour maintenir un vide dans la chambre afin de réduire les risques de contamination pendant le fonctionnement. Le SEM a une sensibilité et une résolution élevées allant jusqu'à 1000x et peut analyser des échantillons avec de très petites zones, comme 10nm. Le microscope est équipé d'une unité de traitement d'image haute vitesse qui améliore le contraste, la résolution et la dynamique de l'image de l'échantillon. De plus, l'analyse spectrale in situ permet à l'utilisateur d'obtenir les résultats d'analyse en temps réel. 6300 est connu pour exécuter plusieurs opérations en même temps, ce qui contribue à améliorer l'efficacité opérationnelle. En outre, l'étage d'échantillonnage intégré offre un large éventail de mouvements et supporte le transfert de données en parallèle, qui est réalisé à travers une mémoire interne, de sorte que l'utilisateur peut acquérir des images rapidement. HITACHI 6300 est un atout SEM haute performance polyvalent qui convient aux utilisateurs qui nécessitent une grande vitesse et précision pour l'imagerie et l'analyse SEM. Il est couramment utilisé pour le contrôle de la qualité dans l'industrie et la recherche, en particulier dans des domaines tels que les semi-conducteurs, la science des matériaux, la nanotechnologie et la biologie.
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