Occasion HITACHI 7800H #293753907 à vendre en France

HITACHI 7800H
ID: 293753907
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI 7800H est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) conçu et fabriqué par HITACHI High-Tech Corporation. Cet instrument d'analyse avancé offre des capacités d'imagerie haute résolution, d'analyse élémentaire et de caractérisation de surface pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. 7800H est équipé d'une technologie de pointe et de caractéristiques qui permettent aux chercheurs, aux scientifiques et aux ingénieurs d'étudier les matériaux à l'échelle micro- et nanométrique avec une précision et une précision exceptionnelles. Au cœur de HITACHI 7800H se trouve son système optique électronique, qui se compose d'un canon à électrons de haute luminosité, de lentilles de condenseur électromagnétique et de bobines de balayage électrostatique. Ce système sophistiqué génère un faisceau d'électrons focalisés qui balaye la surface de l'échantillon, ce qui donne des images à haute résolution avec des grossissements allant de plusieurs fois à des centaines de milliers de fois. Le faisceau d'électrons peut être contrôlé avec précision pour obtenir des conditions d'imagerie optimales, permettant aux utilisateurs de capturer des détails de surface fins et des informations structurelles avec une clarté exceptionnelle. Une caractéristique clé de 7800H est sa capacité de pression variable, qui permet l'imagerie et l'analyse d'échantillons dans un large éventail de conditions atmosphériques. Cette technologie permet aux utilisateurs d'étudier des échantillons non conducteurs ou hydratés sans avoir besoin d'une préparation complète des échantillons, ce qui la rend idéale pour des applications en sciences des matériaux, en géologie, en biologie et en sciences de l'environnement. Le mode de pression variable peut être ajusté pour créer un environnement contrôlé dans la chambre SEM, offrant flexibilité et polyvalence pour divers types d'échantillons et conditions d'étude. En plus de l'imagerie haute résolution, HITACHI 7800H offre des capacités d'analyse élémentaire avancées grâce à la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). Le système EDS intégré au microscope détecte et analyse les rayons X caractéristiques émis par l'échantillon lorsqu'il est bombardé par le faisceau d'électrons. Cela permet aux utilisateurs d'identifier la composition élémentaire de l'échantillon et de cartographier la distribution des éléments sur la surface avec une grande sensibilité et précision. La combinaison de l'imagerie SEM et de l'analyse EDS fournit des informations complètes sur la composition chimique et la structure des matériaux à l'échelle micro- et nanométrique. 7800H dispose également d'une gamme de modes et techniques d'imagerie avancés pour améliorer la polyvalence et la fonctionnalité de l'instrument. Par exemple, le microscope offre l'imagerie électronique secondaire pour l'analyse topographique, l'imagerie électronique rétrodiffusée pour le contraste de composition et l'imagerie cathodoluminescente pour l'étude des matériaux luminescents. Ces modes d'imagerie peuvent être combinés et personnalisés pour répondre aux besoins spécifiques de recherche et d'analyse, faisant de HITACHI 7800H un outil puissant pour une grande variété de disciplines scientifiques. En outre, 7800H est conçu avec des interfaces logicielles conviviales et des contrôles intuitifs pour faciliter le fonctionnement et l'analyse des données. Le microscope est équipé d'un logiciel d'imagerie et d'analyse sophistiqué qui permet aux utilisateurs d'acquérir, de traiter et de visualiser des données avec efficacité et précision. Le logiciel permet de contrôler facilement les paramètres d'imagerie, les outils de mesure pour l'analyse d'images et l'intégration de données d'imagerie et d'analyse pour la caractérisation complète des échantillons. En résumé, le microscope électronique à balayage HITACHI 7800H est un instrument d'analyse de pointe qui offre des capacités d'imagerie haute résolution, d'analyse élémentaire et de caractérisation de surface pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Grâce à sa technologie de pointe, sa capacité de pression variable, ses fonctions d'analyse élémentaire et ses interfaces logicielles intuitives, 7800H fournit aux chercheurs, aux scientifiques et aux ingénieurs un outil puissant pour étudier les matériaux à l'échelle micro et nanométrique avec une précision exceptionnelle.
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