Occasion HITACHI CG 4100 #293603081 à vendre en France

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ID: 293603081
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" CIM: SECS GEM Standard handler system (3) FOUPs Power supply 2008 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI CG 4100 (SEM) est un outil précieux pour les chercheurs, les ingénieurs et les concepteurs de produits. Il offre des images supérieures des caractéristiques macro et micro dans les échantillons, permettant une étude détaillée des caractéristiques physiques et chimiques. Sa haute résolution et sa large gamme de fonctionnement en font un excellent choix pour l'imagerie à l'échelle nanométrique. HITACHI CG4100 utilise l'optique électronique à balayage pour générer des images d'échantillons, en utilisant la réflexion d'un faisceau d'électrons pour identifier leur structure. Son système de grossissement numérique motorisé est capable de zoomer entre 20x et 500000x, permettant l'observation de spécimens à l'échelle nanométrique. Les images d'électrons secondaires ultra haute résolution peuvent être capturées jusqu'à 0,8nm et les images de contraste élevé peuvent être générées par l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). En plus de ses capacités optiques, la technologie permet à l'utilisateur d'analyser des échantillons avec une analyse élémentaire aux rayons X haute résolution. Cela permet de quantifier les éléments dans les échantillons avec une sensibilité inférieure à 0,5 %. Le système permet également aux utilisateurs de contrôler le faisceau d'électrons. Le faisceau peut être focalisé et le courant et la tension peuvent être ajustés pour obtenir les meilleures images pour une application donnée. CG-4100 SEM est livré avec des composants logiciels et matériels ; c'est un système fiable et facile à utiliser, nécessitant un temps de mise en place minimal. Sa conception pratique permet aux utilisateurs de le configurer en fonction de leurs besoins spécifiques, contribuant à optimiser la qualité d'image et l'analyse. En résumé, le CG 4100 SEM offre d'excellentes images des fonctions macro et micro dans les échantillons, combinées à une large plage de fonctionnement et une gamme de fonctionnalités pratiques telles que le grossissement numérique, l'analyse élémentaire des rayons X et les faisceaux d'électrons réglables, ce qui en fait le choix parfait pour les tâches d'imagerie à l'échelle nanométrique.
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